[发明专利]卷板厚度测量设备和方法有效
| 申请号： | 201410195782.9 | 申请日： | 2014-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN104634263B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 全笔句;沈永喆;金哲弘;李濬燮;黄元炯 | 申请（专利权）人： | 三星SDI株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王占杰;尹淑梅 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种卷板厚度测量设备及其方法，所述卷板厚度测量设备能够通过用分量控制电极板的厚度来测量电极板的厚度而改善测量的均匀性和测量的厚度数据的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度测量设备 卷板 测量 控制电极板 厚度数据 电极板 均匀性 | ||
【主权项】：
1.一种卷板厚度测量设备，所述卷板厚度测量设备包括：旋转辊；电极板，绕辊卷绕并且沿辊的旋转方向移动；检测器，检测来自辊的外周表面或卷绕在辊上的电极板的外表面的光的量或图像；以及处理器，使用辊的外周表面的光的量或图像检测信号生成辊的外周表面的第一轮廓数据，将第一轮廓数据分成第一分量和第二分量，通过第一分量和第二分量中的每一个来计算参考数据和测量数据之间的差值，通过使用计算出的差值校正包括在第一轮廓数据中的第一分量和第二分量的测量数据来生成第二轮廓数据，使用绕辊卷绕的电极板的目标外表面的光的量或图像检测信号生成电极板的目标外表面的位移量数据，以及通过将第二轮廓数据与位移量数据进行比较来计算电极板的厚度。
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