[发明专利]环模磨损形貌测量装置有效

专利信息
申请号: 201410196948.9 申请日: 2014-05-09
公开(公告)号: CN103983172A 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 武凯;孙宇;崔先岸;王栓虎;丁武学;彭斌彬 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种环模磨损形貌测量装置,包括磁铁片、底座、导轨、垂直基座、测微仪和紧定螺钉;垂直基座与导轨形成滑动副,且与导轨之间设置有紧定螺钉;其中一个底座与导轨固定连接;另一个底座与导轨形成滑动副,且与导轨之间设置有紧定螺钉;两个底座位于导轨下方的内侧固连有磁铁片;导轨上有刻度;测微仪与垂直基座固连,且测微仪的测量端位于底座上固连磁铁片的一侧;本发明结构简单,对现有的装置进行改造即可使用,且测量方法简单,操作方便;本发明的测头通过测头固定磁铁与测杆连接,测头可拆卸、更换,既能测环模表面的磨损情况,也可以测环模模孔的磨损情况,适用范围广。
搜索关键词: 磨损 形貌 测量 装置
【主权项】:
一种环模磨损形貌测量装置,其特征在于:包括磁铁片(1)、底座(2)、导轨(3)、垂直基座(4)、测微仪(5)和紧定螺钉(7);垂直基座(4)与导轨(3)形成滑动副,且与导轨之间设置有紧定螺钉(7);两个底座(2)分别设置在垂直基座(4)的两侧,其中一个底座(2)与导轨(3)固定连接;另一个底座(2)与导轨(3)形成滑动副,且与导轨(3)之间设置有紧定螺钉(7);两个底座(2)位于导轨下方的内侧固连有磁铁片(1);导轨(3)上有刻度;测微仪(5)与垂直基座(4)固连,且测微仪(5)的测量端位于底座(2)上固连磁铁片(1)的一侧。
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