[发明专利]双色激光磨矿粒度在线分析仪在审
| 申请号： | 201410200101.3 | 申请日： | 2014-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN105092429A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 郝成;杨志刚;王建民 | 申请（专利权）人： | 河北联合大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 唐山永和专利商标事务所 13103 | 代理人： | 张云和 |
| 地址： | 063009 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及激光粒度仪，具体为一种双色激光磨矿粒度在线分析仪，依次包括发射单元、光学系统、接收单元、信号处理和控制单元；发射单元包括两个红外半导体激光二极管，分别为平行放置的红外半导体激光二极管和垂直放置的红外半导体激光二极管；平行放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的一个直角面进入、从斜面射出，垂直放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的斜面反射，两个红外半导体激光二极管发出的光线在直角棱镜的斜面上汇合，再依次经过样品池和傅立叶成像透镜。本发明提供的双色激光磨矿粒度在线分析仪，由于不需要对信噪比低部分的光信号的数据采集，简化了光学系统结构，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 磨矿 粒度 在线 分析 | ||
【主权项】：
一种双色激光磨矿粒度在线分析仪，依次包括发射单元、光学系统、接收单元、信号处理和控制单元；其特征在于：所述的发射单元包括两个红外半导体激光二极管，分别为平行放置的红外半导体激光二极管和垂直放置的红外半导体激光二极管；所述的光学系统依次包括直角棱镜、样品池和傅立叶成像透镜；平行放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的一个直角面进入、从斜面射出，垂直放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的斜面反射，两个红外半导体激光二极管发出的光线在直角棱镜的斜面上汇合，再依次经过样品池和傅立叶成像透镜；所述的接收单元为CCD图像传感器，接受傅立叶成像透镜透射出的光线，并传输给信号处理和控制单元。
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