[发明专利]高低温环境防尘密封圈密封性能测试装置及测试方法

摘要

本发明提供了一种高低温防尘密封圈密封性能测试装置，包括高低温箱和设置在其内的测试机构，测试机构包括安装支架、驱动机构、密封圈安装轴、被试密封圈和收集器；被试密封圈穿设在安装支架的底部上，并用埋尘的方式模拟月尘环境，驱动机构为穿设在被试密封圈内的密封圈安装轴提供动力，使其相对于密封圈转动。本发明还提供了一种高低温测试方法，采用上述装置，将测试机构放到高低温箱中后，对其进行模拟月面环境温度的设定，启动驱动机构转动一定转数后停止，拆下收集器用放大镜检测收集器上通过灰尘数量并估算其直径，看是否满足指标要求。本发明测试检测一体化设计，有与实际相符的高低温测试环境，且能直观、准确的判断出密封圈的密封性能。

主权项

一种高低温防尘密封圈密封性能测试装置，其特征在于，包括一测试机构，所述测试机构进一步包括：安装支架，内部呈一矩形容置空间；驱动机构，安装在安装支架的顶部上，所述驱动机构的下端设置有一密封圈安装轴，所述驱动机构为所述密封圈安装轴提供动力使其转动；所述密封圈安装轴的下端穿出所述安装支架的底部；被试密封圈，穿设在所述安装支架的底部上，且所述被试密封圈的外径部分与所述支架底部过盈配合，并通过一固定板压紧；所述被试密封圈套设在所述密封圈安装轴上，所述密封圈安装轴相对于所述被试密封圈转动；所述安装支架的容置空间内的下端形成一埋尘空间，用于放置灰尘，且所述被试密封圈的上端埋设在所述灰尘内；收集器，设置在所述安装支架底部的外侧面上，且所述收集器覆盖所述密封圈安装轴的底端和所述被试密封圈的下端面。