[发明专利]一种透明平整片状基底表面的金纳米材料计数方法有效
| 申请号： | 201410201048.9 | 申请日： | 2014-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN104007087A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 许潇;李娜;李甜;徐重行;刘锋 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;孙楠 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种透明平整片状基底表面的金纳米材料计数方法，其包括以下步骤：将样品测定时所用溶剂加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到背景散射图像；将金纳米材料加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到金纳米材料的特征散射图像；将含有不同浓度金纳米材料的待测样品分别加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到若干待测样品的散射图像；对采集得到的背景散射图像、金纳米材料的特征散射图像和待测样品的散射图像依次进行图像分析，得到待测样品散射图像中金纳米材料的数量。本发明可以广泛应用于多种透明平整基底以及多种结构和尺寸的金纳米材料的计数中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 透明 平整 片状 基底 表面 纳米 材料 计数 方法 | ||
【主权项】：
一种透明平整片状基底表面的金纳米材料计数方法，其包括以下步骤：1)将样品测定时所用溶剂加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到背景散射图像；2)将金纳米材料加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到金纳米材料的特征散射图像；3)将含有不同浓度金纳米材料的待测样品分别加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到若干待测样品的散射图像；4)对步骤1)中得到的背景散射图像、步骤2)中得到的金纳米材料的特征散射图像和步骤3)中得到的待测样品的散射图像依次进行图像分析，得到待测样品散射图像中金纳米材料的数量。
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