[发明专利]一种三维测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201410201655.5 申请日: 2014-05-08
公开(公告)号: CN103954239A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 秦品乐;王运龙;孟贤玉 申请(专利权)人: 青岛三友智控科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种三维测量系统及方法,其中的一种三维测量系统,包括:双目相机:其功能为采用二维标定靶对其进行标定,得到相机之间的空间外参数及两个相机各自的内参数,从而为三维重构提供必要的参数;光栅干涉投影装置:用以将光影投射到光栅上产生干涉条纹后投射于被测物。本发明采用了激光作为光源,通过光学光栅完成周期性干涉条纹的产生,相对于以往的方法,其拥有更高的光学细分,因此具有可达到更高的测量精度,同时也为该周期性条纹研究了相应的相位解包裹算法和无特征点的三维拼接算法,从而使得该测量系统测量精度更高,同时使用更加方便。
搜索关键词: 一种 三维 测量 系统 方法
【主权项】:
一种三维测量系统,其特征在于,包括:双目相机:其功能为采用二维标定靶对其进行标定,得到相机之间的空间外参数及两个相机各自的内参数,从而为三维重构提供必要的参数;光栅干涉投影装置:用以将光影投射到光栅上产生干涉条纹后投射于被测物;所述光栅干涉投影装置包括激光器、第一分光镜、第二分光镜、光栅、两个透镜组成的透镜组、第一棱镜、第二棱镜、第一反射镜及第二反射镜;激光器通过分光镜被分为两路,经过光栅后分别经过两个透镜投射于第一棱镜、第二棱镜后相干涉形成干涉条纹,然后投射到第一反射镜后,经过反射后再投射到第二反射镜,再次反射后投射到被测的部件上。
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