[发明专利]多晶硅薄膜、多晶硅薄膜晶体管及阵列基板的制备方法在审

专利信息
申请号: 201410203194.5 申请日: 2014-05-14
公开(公告)号: CN103972050A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 刘政 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/268;H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种多晶硅薄膜、多晶硅薄膜晶体管及阵列基板的制备方法,涉及显示技术领域,可使多晶硅结晶均匀,并增大晶粒尺寸,使结晶质量提高,从而使得薄膜晶体管的电学性能得到提升。该多晶硅薄膜的制备方法包括:在衬底基板上形成非晶硅薄膜;采用准分子激光退火方法对非晶硅薄膜进行处理,使非晶硅薄膜晶化为多晶硅薄膜;进一步的在形成非晶硅薄膜之后,采用准分子激光退火方法对非晶硅薄膜进行处理之前,所述方法还包括:对非晶硅薄膜的表面进行镍盐溶液处理,使镍盐溶液均匀涂于非晶硅薄膜的表面。用于需要提高多晶硅结晶均匀,并增大晶粒尺寸,使结晶质量提高的多晶硅薄膜、低温多晶硅薄膜晶体管及阵列基板的制备。
搜索关键词: 多晶 薄膜 薄膜晶体管 阵列 制备 方法
【主权项】:
一种多晶硅薄膜的制备方法,包括:在衬底基板上形成非晶硅薄膜;采用准分子激光退火方法对所述非晶硅薄膜进行处理,使所述非晶硅薄膜晶化为多晶硅薄膜;其特征在于,在形成所述非晶硅薄膜之后,采用准分子激光退火方法对所述非晶硅薄膜进行处理之前,所述方法还包括:对所述非晶硅薄膜的表面进行镍盐溶液处理,使所述镍盐溶液均匀涂于所述非晶硅薄膜的表面。
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