[发明专利]线性调频多光束激光外差二次谐波测量杨氏模量的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410205997.4 申请日: 2014-05-15
公开(公告)号: CN103954504A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 李彦超;周巍;刘明亮;杨九如;冉玲苓;高扬;杨瑞海;杜军;丁群;王春晖;马立峰;于伟波 申请(专利权)人: 黑龙江大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01B11/16
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张宏威
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 线性调频多光束激光外差二次谐波测量杨氏模量的装置及方法,属于光学领域。为了解决现有的测量杨氏模量的方法存在误差大、测量精度低的问题。线性调频激光器发出的线性偏振光以入射角θ0斜入射至薄玻璃板,经该薄玻璃板透射之后的光束入射至第一平面反射镜,该光束在相互平行的薄玻璃板和第一平面反射镜之间反复反射和透射多次,获得多束光,经薄玻璃板和第一平面反射镜之间反复反射和透射之后的光束与薄玻璃板前表面的反射光一起通过会聚透镜汇聚至光电探测器的光敏面上,所述光电探测器输出电信号给信号处理系统;信号处理系统用于处理数据从而获取金属线长度变化前后薄玻璃板和第一平面反射镜之间的距离。本发明适用于测量杨氏模量。
搜索关键词: 线性 调频 光束 激光 外差 二次 谐波 测量 杨氏模量 装置 方法
【主权项】:
线性调频多光束激光外差二次谐波测量杨氏模量的装置,其特征在于,它包括线性调频激光器(1)、薄玻璃板(3)、第一平面反射镜(4)、待测金属线(5)、砝码(6)、会聚透镜(7)、光电探测器(8)和信号处理系统;第一平面反射镜(4)的非反射面贴在砝码(6)的底部,且第一平面反射镜(4)的中心与砝码(6)的中心同轴;待测金属线(5)的一端固定,待测金属线(5)的另一端与砝码(5)的顶端固定连接;薄玻璃板(3)与第一平面反射镜(4)平行;薄玻璃板(3)位于第一平面反射镜(4)的下方,且薄玻璃板(3)与第一平面反射镜(4)之间的距离d为30mm;线性调频激光器(1)发出的线性偏振光以入射角θ0斜入射至薄玻璃板(3),经该薄玻璃板(3)透射之后的光束入射至第一平面反射镜(4),该光束在相互平行的薄玻璃板(3)和第一平面反射镜(4)之间反复反射和透射多次,获得多束光,经薄玻璃板(3)和第一平面反射镜(4)之间反复反射和透射之后的光束与薄玻璃板(3)前表面的反射光一起通过会聚透镜(7)汇聚至光电探测器(8)的光敏面上,所述光电探测器(8)输出电信号给信号处理系统;信号处理系统用于处理数据从而获取金属线(5)长度变化前后薄玻璃板(3)和第一平面反射镜(4)之间的距离d。
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