[发明专利]一种光学材料折射率的精密测量装置及方法有效
| 申请号： | 201410214584.2 | 申请日： | 2014-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN103954589A | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 董敬涛;张琦;吴周令;陈坚;赵建华;陶海征 | 申请（专利权）人： | 合肥知常光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01B11/06 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人： | 金凯 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学材料折射率的精密测量装置及方法，该装置及方法能够实现宽光谱分析法和法布里-珀罗干涉法的结合，通过全局残差分析，得到精确的光学材料厚度和折射率，通过对宽光谱法布里-珀罗干涉系统进行光谱分析，可以得出某个连续波段下光学材料的折射率色散曲线。本发明提高了折射率的测量精度，利用绝大多数光学材料自身的平行平板结构形成稳定的干涉腔，减小了空气扰动对干涉信号稳定性的影响，避免了将光学材料加工为特殊的形状，实现了光学材料的无损测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学材料 折射率 精密 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光学材料折射率的精密测量装置，其特征在于：该装置包括宽光谱光源，所述宽光谱光源的输出光路上设有第一分光镜，所述第一分光镜的反射光路上设有光功率计，所述第一分光镜的透射光路上设有被测样品；所述被测样品的反射光路上设有第二分光镜，所述第二分光镜的反射光路上设有零度入射角校准装置；所述被测样品的透射光路上依次设有透镜和光谱仪；所述被测样品固定于位移装置上；所述宽光谱光源、光功率计、零度入射角校准装置、光谱仪和位移装置均与计算机交互式信号连接。
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