[发明专利]X射线安全检查设备的透明防辐射罩有效

专利信息
申请号: 201410216909.0 申请日: 2014-05-22
公开(公告)号: CN104008784B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 李萍;陈雯;李振伟;雷茂生;宋霄薇;赵鹏 申请(专利权)人: 河南科技大学
主分类号: G21F1/02 分类号: G21F1/02;G21F1/12
代理公司: 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙)41120 代理人: 罗民健
地址: 471000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: X射线安全检查设备的透明防辐射罩,设有金属框架,在金属框架的两侧设有侧罩板,在其顶部设有上罩板,侧罩板与上罩板组成待检货物通道,在待检货物通道内挂设有多条无缝拼接地辐射屏蔽条,所述的上罩板由透明玻璃和镀设在透明玻璃上的光子晶体膜组成,实现透明安检设备,发明的目的就是弥补现有设备的缺点,更有效地防护经常过安检乘客的健康安全。
搜索关键词: 射线 安全检查 设备 透明 防辐射
【主权项】:
X射线安全检查设备的透明防辐射罩,设有金属框架,在金属框架的两侧设有侧罩板,在其顶部设有上罩板,侧罩板与上罩板组成待检货物通道,在待检货物通道内挂设有多条无缝拼接地辐射屏蔽条,所述的上罩板由透明玻璃和镀设在透明玻璃上的光子晶体膜组成,光子晶体膜是由5层硫化锌和5层氟化镁相互交替叠加构成(AB)8(CD)8(EF)8(HL)8(MN)8型复合结构,其中A介质、C介质、E介质、H介质和M介质的成份均相同,为硫化锌,B介质、D介质、F介质、L介质和N介质的成份均相同,为氟化镁,A介质的厚度为2.69nm,B介质的厚度为5.07nm,C介质的厚度为1.92nm,D介质的厚度为3.62nm,E介质的厚度为1.153nm,F介质的厚度为2.17nm,H介质的厚度为0.865nm,L介质的厚度为1.63nm,M介质的厚度为0.67nm,N介质的厚度为1.26nm,A介质贴合透明玻璃设置。
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