[发明专利]集成突触元件的结构和方法有效
申请号: | 201410217142.3 | 申请日: | 2014-05-21 |
公开(公告)号: | CN104183569B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | L·A·克莱文格;C·纳拉延;G·A·诺索普;C·J·拉登斯;B·C·萨普 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L23/532;H01L21/768 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 酆迅,张宁 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开的实施例涉及一种集成突触元件的结构和方法。公开了一种互连结构中使用电迁移的突触元件,其中对所述互连结构进行最优化以给予跟随电流流动的电阻率变化的控制。突触元件展现取决于电流流动的数量(电荷)和方向的电阻率,其中通过控制互连结构中设计的空隙的容量来获得持续可变的电阻。 | ||
搜索关键词: | 集成 突触 元件 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种互连结构,包括:金属线,具有布置在第一电路和第二电路之间的可变电阻部分,所述金属线将所述第一电路和所述第二电路连接并且包括:至少一个突起部分,用作金属储存库;以及至少一个空隙,其尺寸可变,布置在所述金属线内,其中:所述金属线具有取决于所述空隙的尺寸的电阻,由于金属原子从所述金属储存库到所述空隙附近的区域的电迁移,因此在第一方向上施加到所述金属线的具有预定幅度的第一电流使所述空隙的尺寸增加,由此将所述金属线的电阻增加到第一电阻值,以及由于所述空隙附近的金属原子电迁移到所述金属储存库,因此在与所述第一方向相反的第二方向上施加到所述金属线的具有所述预定幅度的第二电流使所述空隙的尺寸减小,由此将所述金属线的电阻减小到第二电阻值。
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