[发明专利]增强光刻工艺窗口的光学邻近修正方法有效

专利信息
申请号: 201410218385.9 申请日: 2014-05-22
公开(公告)号: CN105093809B 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: 张婉娟 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 徐洁晶
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种增强光刻工艺窗口的光学邻近修正方法,包括步骤:A.提供待修正的原始图形;B.插入基于规则的散射条,作为原始散射条;C.选择出孤立的散射条并将其扩大,对该扩大规则进行精调;D.执行光学邻近修正;E.检查修正后的散射条是否在晶圆上显影出来,若否,进入步骤F;若是,则返回上述步骤C;F.输出经过光学邻近修正后的图形。本发明能够明显地改善光刻工艺窗口,改进光学邻近修正质量,使之具有更好的收敛性。另外还能够减少手动调试时间,加快OPC工艺菜单的开发。
搜索关键词: 增强 光刻 工艺 窗口 光学 邻近 修正 方法
【主权项】:
1.一种增强光刻工艺窗口的光学邻近修正方法,包括步骤:A.提供待修正的原始图形;B.插入基于规则的散射条,作为原始散射条;C.选择出孤立的所述散射条并将其扩大,对该扩大规则进行精调;D.执行光学邻近修正;E.检查修正后的所述散射条是否在晶圆上显影出来,若否,进入步骤F;若是,则返回上述步骤C;以及F.输出经过光学邻近修正后的图形;其中,上述步骤C包括:检查所述散射条的每一条边缘,搜索孤立的所述散射条的待调整边缘;将所述待调整边缘向外扩展一数值c;其中,搜索孤立的所述散射条的待调整边缘的方式为:判断每一条所述边缘的宽度是否小于等于一数值a并且距离是否大于等于一数值b;若是,则确定所述边缘为待调整边缘。
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