[发明专利]基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置及检测方法有效
申请号: | 201410219304.7 | 申请日: | 2014-05-22 |
公开(公告)号: | CN103994734A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 王莹;曾爱军;张运波;黄惠杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置,特点在于该装置由双波长光源、聚焦透镜、滤光小孔、分光镜、准直透镜、成像透镜、第一图像传感器、第二图像传感器、第一位置调整机构和第二位置调整机构组成,本发明装置和方法具有结构简单、计算方便和不需要标准镜等优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 波长 光源 轴锥镜锥角 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置,特征在于该装置由双波长光源(1)、聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、成像透镜(9)、第一图像传感器(4)、第二图像传感器(10)、第一位置调整机构(8)和第二位置调整机构(11)组成,其位置关系是:沿双波长光源(1)出射光束方向依次是所述的聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、成像透镜(9)和第二图像传感器(10);第一图像传感器(4)位于所述的准直透镜(6)的前焦面,且第一图像传感器(4)的中心与所述的准直透镜(6)的中心共轴;所述的分光镜(5)位于第一图像传感器(4)与准直透镜(6)之间;所述的滤光小孔(3)与第一图像传感器(4)相对于所述的分光镜(5)共轭;第二图像传感器(10)位于所述的成像透镜(9)的后焦面,且第二图像传感器(10)的中心与成像透镜(9)中心共轴;所述的聚焦透镜(2)、准直透镜(6)、成像透镜(9)均为消色差透镜,在所述的准直透镜(6)和成像透镜(9)之间预留有待测轴锥镜(7)位置并置于所述的第一位置调整机构(8)上,所述的成像透镜(9)和第二图像传感器(10)置于所述的第二位置调整机构(11)上。
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