[发明专利]基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201410219304.7 申请日: 2014-05-22
公开(公告)号: CN103994734A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 王莹;曾爱军;张运波;黄惠杰 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置,特点在于该装置由双波长光源、聚焦透镜、滤光小孔、分光镜、准直透镜、成像透镜、第一图像传感器、第二图像传感器、第一位置调整机构和第二位置调整机构组成,本发明装置和方法具有结构简单、计算方便和不需要标准镜等优点。
搜索关键词: 基于 波长 光源 轴锥镜锥角 检测 装置 方法
【主权项】:
一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置,特征在于该装置由双波长光源(1)、聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、成像透镜(9)、第一图像传感器(4)、第二图像传感器(10)、第一位置调整机构(8)和第二位置调整机构(11)组成,其位置关系是:沿双波长光源(1)出射光束方向依次是所述的聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、成像透镜(9)和第二图像传感器(10);第一图像传感器(4)位于所述的准直透镜(6)的前焦面,且第一图像传感器(4)的中心与所述的准直透镜(6)的中心共轴;所述的分光镜(5)位于第一图像传感器(4)与准直透镜(6)之间;所述的滤光小孔(3)与第一图像传感器(4)相对于所述的分光镜(5)共轭;第二图像传感器(10)位于所述的成像透镜(9)的后焦面,且第二图像传感器(10)的中心与成像透镜(9)中心共轴;所述的聚焦透镜(2)、准直透镜(6)、成像透镜(9)均为消色差透镜,在所述的准直透镜(6)和成像透镜(9)之间预留有待测轴锥镜(7)位置并置于所述的第一位置调整机构(8)上,所述的成像透镜(9)和第二图像传感器(10)置于所述的第二位置调整机构(11)上。
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