[发明专利]垂直铺塑铺膜深度的探测方法

摘要

本发明公开了一种垂直铺塑铺膜深度的探测方法，在垂直铺塑工程施工完毕后，利用电阻变化无损探测其铺膜深度，具体为：首先在垂直铺塑的防渗体表面选择一个探测位置，在铺膜两侧对称布置测点，对称的两个测点为一组，其连线垂直于铺膜；其次运用电阻测量仪测量所布置的每组测点之间的电阻值；再次找出所测电阻值中的最小值，其对应的测点间距的二分之一即为该探测位置的铺膜深度；最后沿铺膜方向按一定间距改变探测位置，重复以上步骤，即可测量出垂直铺塑不同断面的铺膜深度，从而对垂直铺塑的施工质量作出整体评价。本发明可以在垂直铺塑工程施工完毕后，无损进行探测其铺膜深度，操作简单，仪器简便，测量精度高。

主权项

 一种垂直铺塑铺膜深度的探测方法，其特征在于，在垂直铺塑工程施工完毕后，利用电阻变化无损探测其铺膜深度，具体实施步骤如下：步骤1，在垂直铺塑的防渗体表面选择一个探测位置，在铺膜两侧对称布置测点；对称的两个测点为一组，其连线垂直于铺膜；步骤2，运用电阻测量仪测量步骤1中所布置的每组测点之间的电阻值；步骤3，找出步骤2中所测电阻值中的最小值，其对应的测点间距的二分之一即为该探测位置的铺膜深度；步骤4，沿铺膜方向按一定间距改变探测位置，重复步骤1至3，即可测量出垂直铺塑不同断面的铺膜深度，从而对垂直铺塑的施工质量作出整体评价。