[发明专利]一种基于AT697处理器的单粒子翻转故障处理方法

摘要

本发明提出了一种针对AT697处理器的单粒子翻转故障处理方法，所述方法包含步骤101)定义AT697处理器变量的格式；步骤102)初始化AT697F处理器的EDAC功能模块及RAM空间的数据；步骤103)检测并修改与EDAC模块相连的RAM或EEPROM存储器由单粒子翻转造成的错误；步骤104)建立维护策略，主动周期性的遍历访问所有RAM和EEPROM存储器的存储空间，进而减少并消除单bit错误。本发明根据AT697处理器提供EDAC检测接口的特点，针对空间单粒子故障提出一套完成的软件处理设计方案。本方案不需额外增加芯片，不增加设备的重量、体积、功耗；处理方法简单、高效；接口灵活、可移植性强，对提高我国卫星发展的可靠性与安全性具有重要的意义。

主权项

一种基于AT697处理器的单粒子翻转故障处理方法，所述方法包含：步骤101)定义AT697处理器变量的格式；步骤102)初始化AT697F处理器的EDAC功能模块及RAM空间的数据；步骤103)检测并修改与EDAC模块相连的RAM或EEPROM存储器由单粒子翻转造成的错误；步骤104)建立维护策略，主动周期性的遍历访问所有RAM和EEPROM存储器的存储空间，进而减少并消除单bit错误；其中，所述步骤104)之后还包含：对单位或多位错误故障处理进行验证，具体为：步骤205)计算待测试数据的EDAC校验码，即获得待测数据的tcb码，其中待测试的数据的长度为32bit；步骤206)制造待测试数据的单比特位或多位错误，即将待测试数据的一位或多位进行取反操作；步骤207)将处理器中存储器控制寄存器中的写旁路检测wb位使能，同时写入待测试数据的正确tcb码；使能写旁路检测wb位后，向RAM和EEPROM空间写数据时校验位不由处理器EDAC模块产生，而是由此次操作所写入的固定tcb码；步骤208)向设定地址写入步骤206)输出的待测试数据；步骤209)将存储器的第三控制寄存器写旁路检测wb位禁止；步骤210)从设定地址中读取步骤208)写入的测数据；步骤211)由于tcb码与实际写入数据存在单比特位或多位错误，触发EDAC异常或中断ISR验证异常纠错；步骤212)程序进入EDAC异常或中断ISR，处理单比特位或多位错误,完成纠错、返回动作；步骤213)重复读取设定地址中写入的数据，如果没有纠正则再次进入EDAC异常或中断ISR，如此循环；如果纠正结果正确则不会再次触发EDAC异常或中断ISR；步骤214)查询纠错计数进行比对验证，当纠错计数增加值满足单粒子翻转处理计数时则基于AT697处理器的单粒子翻转故障处理方法满足要求。