[发明专利]面光源虚像距测量装置及其方法有效

专利信息
申请号: 201410229310.0 申请日: 2014-05-28
公开(公告)号: CN104019963B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 黄慧;李湘宁;汪宇青;隋峰 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种面光源虚像距测量装置,设置在由面光源发出的光束经过改变光线传播方向的透镜系统后具有一定出光角度的出光角光束的光路上,其特征在于,包括聚焦物镜,用于接收出光角光束并对接收到的出光角光束进行成像,设置在透镜系统的出口处;遮光板,设置在聚焦物镜表面上,包含关于聚焦物镜的中心相对称的两条细缝;以及接收显像屏。本发明所涉及的面光源虚像距测量装置及其方法,出光角光束通过面光源虚像距测量装置后,接收显像屏上接收到光带显出该光带的光斑图像,使得接收显像屏上形成相同效果的光斑图像,两次相同效果的光斑对称的位置被记录,代入虚像距计算公式,计算得出更精确的虚像距。
搜索关键词: 光源 虚像 测量 装置 及其 方法
【主权项】:
一种面光源虚像距测量装置,设置在由面光源发出的光束经过改变光线传播方向的透镜系统后具有一定出光角度的出光角光束的光路上,其特征在于,包括:聚焦物镜,用于接收所述出光角光束并对接收到的所述出光角光束进行成像,设置在所述透镜系统的出口处,所述聚焦物镜的像方焦距值是所述聚焦物镜直径值的十倍以上;遮光板,设置在所述聚焦物镜表面上,包含关于所述聚焦物镜的中心相对称的两条细缝;以及接收显像屏,用于接收所述出光角光束通过所述遮光板和所述聚焦物镜后形成的光带从而显像出光斑,设置在所述聚焦物镜背离所述面光源的一侧,其中,所述聚焦物镜的直径大于所述透镜系统的出口口径,所述接收显像屏的直径大于所述聚焦物镜的直径。
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