[发明专利]界面处高分子薄膜力学性质的检测方法无效

专利信息
申请号: 201410230472.6 申请日: 2014-05-28
公开(公告)号: CN104034612A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 何丹农;王萍;夏智伟 申请(专利权)人: 上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司
主分类号: G01N3/32 分类号: G01N3/32;G01N11/00
代理公司: 上海东方易知识产权事务所 31121 代理人: 唐莉莎
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种界面处高分子薄膜力学性质检测方法,以石英晶体微天平为平台,测量高聚物分子界面处的粘弹性,配置成不同浓度的溶液;将镀金的石英晶体用Piranha溶液超声清洗,然后用超纯水超声,并将氮气吹干的晶体装入液体池,测量空气中的基频下或倍频数据,记录频率F和D因子的平均值;然后往液体池中加入超纯水,待频率和D因子稳定后,测量水中的数据;并根据频率和D因子的值计算出粘度和剪切模量。本发明的优点在于可以测量固-液界面处的高分子聚合物的粘弹性;测量方法简单,快速。
搜索关键词: 界面 高分子 薄膜 力学 性质 检测 方法
【主权项】:
一种界面处高分子薄膜力学性质检测方法,其特征在于,以石英晶体微天平为平台,测量高聚物分子界面处的粘弹性,包括以下步骤:(1)电子天平称量适量高聚物,加溶液溶解,配置成不同浓度的溶液;(2)实验在可控温度下进行,首先,将镀金的石英晶体用H2SO4:H2O2=3:1的Piranha 溶液超声清洗3分钟,然后用超纯水超声3分钟,洗3次;并将氮气吹干的晶体装入液体池,测量空气中的基频下或倍频数据,记录频率F和D因子的平均值;然后往液体池中加入超纯水,待频率和D因子稳定后,测量水中的数据;然后加入最低浓度的聚乙二醇溶液,经过15‑20分钟,频率和D因子稳定后,测量并记录数据;之后依次加入不同浓度梯度的溶液,每个浓度均等到频率和D因子稳定后,约15‑20分钟,测量数据并记录;最后加入超纯水,冲洗掉PEG,稳定后测数据;并根据频率和D因子的值计算出粘度和剪切模量。
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