[发明专利]一种静电屏蔽效应晶体管及其设计方法有效

专利信息
申请号: 201410230525.4 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104009087B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 张雷 申请(专利权)人: 深圳市盛元半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L23/60;H01L29/06;H01L21/265
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 代理人: 汤东凤
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种静电屏蔽效应晶体管及其设计方法,包括有集电极、槽型栅极、基区、氧化层、多晶硅层以及发射极;其中,所述集电极包括有引出端、N+衬底、N+导电材料层、N‑导电材料层;所述N‑导电材料层上设置有槽型栅极,在沟槽底部注入一定浓度的B离子以作为P+区,栅极之间设有注有B离子的基区;栅极和基区上面设有氧化层,基区和氧化层上开设有发射极,氧化层上淀积有多晶硅层,多晶硅层经过高温扩散后在发射极下面形成发射区。本发明静电屏蔽效应晶体管具有超浅结的发射极和基区,小尺寸的发射极和基区,器件的发射极电流集边效应、基区挤流效应将大大改善。且由于器件结构和基区超浅结深,提升了空穴的抽取速度以及器件的高频特性。
搜索关键词: 一种 静电屏蔽 效应 晶体管 及其 设计 方法
【主权项】:
一种静电屏蔽效应晶体管,其特征在于,包括有:集电极、槽型栅极、基区、氧化层、多晶硅层以及发射极;其中,所述集电极包括有引出端、N+衬底、N+导电材料层、N‑导电材料层;所述集电极的引出端、N+衬底、N+导电材料层以及N‑导电材料层依次相连,所述N‑导电材料层上设置有槽型栅极,在沟槽底部注入一定浓度的B离子以作为P+区,所述P+区域上面设有P型EPI 工艺SI填充区域;栅极之间设有注有B离子的基区,栅极和基区通过扩散后连成一体;栅极和基区上面设有氧化层,基区和氧化层上开设有发射极,同时氧化层上淀积有多晶硅层,多晶硅层先离子注入P,然后再离子注入As,同时形成导电层;发射极上面的多晶硅层经过高温扩散后在发射极下面形成发射区。
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