[发明专利]一种光纤阵列纤芯距精密测量方法和系统

摘要

本发明提供一种光纤阵列纤芯距精密测量方法和系统，其中，所述方法包括利用预设的标定模板进行标定，获得误差；通过预设的测量模板，采集所述被测光纤阵列端面图像，所述测量模板与所述被测光纤阵列端面对应固定在可移动的工作台上，所述光纤阵列的光纤中有光源光线在传导；根据所述测量模板，按照预设的算法，将采集的多幅图像按顺序进行拼接复原，并对其进行处理，得到处理后的图像，根据所述处理后的图像和所述误差，计算纤芯位置。本发明能够在不提高成本的情况下，有效提高光纤阵列纤芯距测量的精度。

主权项

一种光纤阵列纤芯距精密测量方法，其特征在于，所述方法包括：步骤A，利用预设的标定模板进行标定，从而获得误差；步骤B，通过预设的测量模板，采集被测光纤阵列端面图像，所述测量模板与所述被测光纤阵列端面对应固定在可移动的工作台上，所述光纤阵列的光纤中有光源光线在传导，首次采集的图像包括至少两个纤芯，移动工作台后，再采集所述被测光纤阵列端面图像，再次采集的图像包括至少两个纤芯，且至少有一个纤芯为上一次所采集的图像中的纤芯之一，继续按同方向移动工作台，重复采集图像的过程，直至整个所述被测光纤阵列端面被采集完毕；其中，所述测量模板上设置有用于提供图像拼接的辅助特征以及作为测量标准量的图像编码信息，所述图像编码信息为设置于所述测量模板中间位置的一条主线以及在所述主线上按照标准纤芯距等间距分布的若干条短线，所述测量模板通过微纳米光刻工艺加工而成；步骤C，根据所述测量模板，按照预设的算法，将采集的多幅图像按顺序进行拼接复原，并对其进行处理，得到处理后的图像，根据所述处理后的图像和所述误差，计算纤芯位置。