[发明专利]一种适用于低精度无方位基准单轴转位设备的惯性测量单元标定方法有效

专利信息
申请号: 201410232223.0 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104121927A 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 刘明;穆杰;杨道安;罗伟;李丽 申请(专利权)人: 湖北航天技术研究院总体设计所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C21/16
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 王和平;陈懿
地址: 430040 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种适用于低精度无方位基准单轴转位设备的惯性测量单元标定方法,属于惯性技术领域。该方法使用单轴转位设备,标定旋转编排5个位置,然后以各位置上的速度误差和天向姿态误差拟合出一阶中间参数Δg以及二阶中间参数依据中间参数与误差参数以及最近的历史标定参数,由最小二乘法计算出各个器件误差参数,为了有效消除由转台引起的定位误差,将前一次迭代计算得到的误差参数和原有惯性测量单元输出数据代入导航方程,再进行一次观测量、中间参数和误差参数残差的解算,对误差参数进行残差补偿,依此类推,直至某一次迭代计算得到的误差参数残差小于阈值。该方法能降低标定成本及标定对转台精度的依赖,缩短标定时间,工程实用性好。
搜索关键词: 一种 适用于 精度 方位 基准 单轴转位 设备 惯性 测量 单元 标定 方法
【主权项】:
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