[发明专利]一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法有效

专利信息
申请号: 201410234911.0 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104019767B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 陈钱;冯世杰;顾国华;左超;孙佳嵩;喻士领;胡岩 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 唐代盛,孟睿
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法。通过对被测物的灰度直方图进行分析,确定被测物的反射率分布以及各反射率所需的最佳曝光时间;使用多次曝光技术,按照各反射率所需的最佳曝光时间对被测物分别进行曝光,获得被测物在不同的最佳曝光时间下拍摄的图像,然后将不同的最佳曝光时间下拍摄的图像进行融合,从而恢复被测物的三维形貌。本发明克服了传统高动态范围测量方法中存在的盲目性,提高了测量效率。
搜索关键词: 一种 基于 灰度 直方图 自适应 动态 范围 三维 测量方法
【主权项】:
一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:使用投影装置向被测物投影均匀白光,然后使用摄像机拍摄被测物获得图像I0,同时记录拍摄图像I0时所使用的曝光时间t0;计算图像I0的灰度直方图;步骤二:在灰度直方图中定位出每个波峰,并在每个波峰的右侧寻找与该波峰相邻最近的波谷,并记录该波谷的横坐标;步骤三:统计步骤二获得的波谷的个数m,将m作为曝光次数,用公式(1)所示方法计算每个波谷所需的最佳曝光时间,topti=2B-1I0it0---(1)]]>公式(1)中,为第i个波谷所需的最佳曝光时间(i=1,2,3...m);用I0i为找到的第i个波谷的横坐标;B为摄像机单个像素用来存储光强时所使用的比特数;步骤四:使用多曝光技术结合N步相移技术拍摄被测物,获得N*n幅相移光栅图像,然后将N*n幅相移光栅图像进行图像融合,获得融合后的N幅相移光栅图像;步骤五:使用融合后的N幅相移光栅图像进行相位求解并重建被测物三维模型。
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