[发明专利]一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法有效
申请号: | 201410234911.0 | 申请日: | 2014-05-29 |
公开(公告)号: | CN104019767B | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 陈钱;冯世杰;顾国华;左超;孙佳嵩;喻士领;胡岩 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 唐代盛,孟睿 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法。通过对被测物的灰度直方图进行分析,确定被测物的反射率分布以及各反射率所需的最佳曝光时间;使用多次曝光技术,按照各反射率所需的最佳曝光时间对被测物分别进行曝光,获得被测物在不同的最佳曝光时间下拍摄的图像,然后将不同的最佳曝光时间下拍摄的图像进行融合,从而恢复被测物的三维形貌。本发明克服了传统高动态范围测量方法中存在的盲目性,提高了测量效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 灰度 直方图 自适应 动态 范围 三维 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:使用投影装置向被测物投影均匀白光,然后使用摄像机拍摄被测物获得图像I0,同时记录拍摄图像I0时所使用的曝光时间t0;计算图像I0的灰度直方图;步骤二:在灰度直方图中定位出每个波峰,并在每个波峰的右侧寻找与该波峰相邻最近的波谷,并记录该波谷的横坐标;步骤三:统计步骤二获得的波谷的个数m,将m作为曝光次数,用公式(1)所示方法计算每个波谷所需的最佳曝光时间,topti=2B-1I0it0---(1)]]>公式(1)中,为第i个波谷所需的最佳曝光时间(i=1,2,3...m);用I0i为找到的第i个波谷的横坐标;B为摄像机单个像素用来存储光强时所使用的比特数;步骤四:使用多曝光技术结合N步相移技术拍摄被测物,获得N*n幅相移光栅图像,然后将N*n幅相移光栅图像进行图像融合,获得融合后的N幅相移光栅图像;步骤五:使用融合后的N幅相移光栅图像进行相位求解并重建被测物三维模型。
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