[发明专利]真空条件下单颗粒粘附力和带电量的测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201410238965.4 申请日: 2014-05-30
公开(公告)号: CN103983381B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 王志浩;白羽;田东波;李蔓;李宇;于强;刘学超;李涛 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01L1/00 分类号: G01L1/00;G01R29/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种真空条件下单颗粒与平板材料之间粘附力和颗粒带电量的测试系统,包括真空容器,真空容器内的一对平行电极板,两电极分别通过导线与真空容器外的直流电源电连接并通过该电源加载电压,使两电极之间产生均匀电场,真空容器内还设置有紫外光源或电子枪使单颗粒荷电,真空容器外还设置有颗粒运动摄录装置。本发明还公开了测试方法。与现有技术相比,本发明的测试系统的测试环境与真实环境较接近,测试结果符合度较好,且测试装置简单,在任何真空容器中均可实施,无需使用昂贵的原子力显微镜,也无需对探针区域做真空改造。
搜索关键词: 真空 条件下 颗粒 粘附 电量 测试 系统 方法
【主权项】:
真空条件下单颗粒与平板材料之间粘附力和颗粒带电量测试系统,包括真空容器,设置在真空容器内的一对平行设置的电极板,上部电极和下部电极分别通过导线与真空容器外的直流电源电连接并通过直流电源加载电压,使平行板之间产生均匀的电场,真空容器内还设置有紫外光源或电子枪对设置在下部电极上的单颗粒实施荷电操作,真空容器外还设置有颗粒运动摄录装置,以通过真空容器上对应摄录位置开设的观察窗对单颗粒的运动进行实时摄录,其中,上部电极与下部电极之间的间距为30mm‑100mm,平板材料为导体材料,制成下部电极。
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