[发明专利]树径生长量精密测量装置

摘要

本发明公开了一种植物树径生长量精密测量装置，装置能够实时测量树木直径，减少测量误差。测量装置包括支架、栅类尺、传感器夹具、微米级位移传感器传感器和信号传输处理电路。支架采用三点法测量直径，由两个部分组装成夹角为90°至150°间的V型体，结合安装在与V型角的对角线重合处的微位移传感器，实现树径的测量。微米级位移传感器及磁栅尺通过信号传输处理电路与上位机间进行远程数据传输。本发明能够稳定实时地同时测量树径及其微变化量，减少测量误差。该装置对植物的压力小，同时结构简单使用方便，质量轻体积小，易携带。

主权项

树径生长量精密测量装置，包括定位支架、测量单元和信号传输处理电路，其特征在于：所述定位支架呈V型，其张角为90°~150°，其中一条边的末端装有可调节夹具，另一条边的末端装有测量单元，所述的定位支架每条边与树木接触处装有不易磨损的不锈钢片，从而形成两个接触测量点；所述测量单元包括传感器支架、微米级位移传感器、传感器夹具、栅类尺动尺、直线导轨和栅类尺定尺；直线导轨垂直固定在定位支架上，利用与其相配合的滑轨滑块控制传感器夹具及栅类尺动尺的运动，其中栅类尺动尺与栅类尺定尺配合，栅类尺定尺与直线导轨平行，传感器夹具的一端装栅类尺动尺，传感器夹具的另一端装微位移传感器，所述传感器支架与V型定位支架将测量装置装夹在树干上，传感器支架与树木接触处设置有橡胶垫，所述微米级位移传感器与信号传输处理电路信号连接；所述微米级位移传感器安装在定位支架张角相对的直径测量点处，其测头位移方向与张角的平分线相重合，从而形成第三接触测量点。