[发明专利]检测体分析方法以及检测体分析装置有效
申请号: | 201410241244.9 | 申请日: | 2014-06-03 |
公开(公告)号: | CN104212872B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 田中政道;立山翔太;福田正和 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | C12Q1/04 | 分类号: | C12Q1/04;C12M1/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 张丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种检测体分析方法,使测定试样流入到流通池,向流过所述流通池的所述测定试样照射光,从所述测定试样中包含的至少几个粒子取得至少第1以及第2光学信息,其中,能够沿着坐标平面的二个轴而测量所述第1以及第2光学信息,从所述至少几个粒子取得角度信息,其中,所述角度信息表示所述坐标平面中的各粒子的坐标与基准线之间所成的角度,根据所述角度信息从表示角度和属于该角度的粒子的数量的关系的分布取得第1以及第2特征信息,其中,第1特征信息是与粒子集中的角度有关的信息,第2特征信息是与整体的分布状态和部分性的分布状态的关系有关的信息,根据所述第1特征信息以及所述第2特征信息,判定测定试样中包含的细菌的形态。 | ||
搜索关键词: | 检测 分析 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种检测体分析方法,使用自动化的检测体分析装置对检测体的分析结果附加标记,其特征在于,对混合检测体和试剂而调制出的测定试样照射光,关于所述测定试样中包含的粒子取得2种光学信息,根据(A)表示在作为轴而至少包含所述2种光学信息的坐标空间中描绘出各粒子时的第1区域内的粒子的分布图形的特征的信息;以及(B)与在所述第1区域中描绘出的粒子中的、在作为所述第1区域的一部分的第2区域中描绘出的粒子的数量有关的信息这双方,对所述检测体的分析结果赋予与所述测定试样中包含的细菌的形态性的特征有关的标记,所述(A)是以基准点为中心针对每固定的角度对所述坐标空间内的所述第1区域中绘制出的粒子进行计数时计数数量最多的角度,所述(B)是与被设定在低于规定角度的低角度侧的所述第2区域中包含的绘制相对所述第1区域中包含的绘制的数量的相对的数量有关的信息,所述2种光学信息包括散射光强度以及荧光强度,比较所述(A)和阈值角度并比较所述(B)和阈值来赋予与所述测定试样中包含的细菌的形态性的特征有关的标记。
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