[发明专利]一种超高分辨率的磁共振成像方法及装置有效
申请号: | 201410242678.0 | 申请日: | 2014-06-03 |
公开(公告)号: | CN105137374B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 陈垒;王镇;谢晓明;江绵恒 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;A61B5/055 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种超高分辨率的磁共振成像方法及装置,所述方法至少包括以下步骤:将被检样品放置于磁场梯度源与纳米超导量子干涉器件的作用范围内;采用静磁场源对被检样品施加静磁场,采用射频源对所述被检样品施加核磁共振射频脉冲以激发所述被检样品使其发生核磁共振;采用所述纳米超导量子干涉器件与被检样品直接耦合以探测所述被检样品产生的核磁共振波谱信号;根据探测得到的核磁共振波谱信号与磁场梯度源的空间分布信息建立被检样品的图像。本发明利用纳米超导量子干涉器件作为探测器,可实现纳米级别分辨率的磁共振成像,测量不会受到振动和电场信号的干扰,样品可与探测器直接近距离耦合,成像范围加大,且可以在强磁场条件下工作。 | ||
搜索关键词: | 一种 超高 分辨率 磁共振 成像 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种磁共振成像方法,其特征在于,至少包括以下步骤:将被检样品放置于磁场梯度源与纳米超导量子干涉器件的作用范围内,采用静磁场源对被检样品施加静磁场,采用射频源对所述被检样品施加核磁共振射频脉冲以激发所述被检样品使其发生核磁共振信号;采用所述纳米超导量子干涉器件与被检样品直接耦合以探测所述被检样品产生的核磁共振波谱信号;利用所述纳米超导量子干涉器件探测被检样品产生的核磁共振波谱信号的方法为:对所述纳米超导量子干涉器件输入预设电流脉冲使其偏置在工作点,若所述被检样品的核磁共振信号耦合到所述纳米超导量子干涉器件将会引起磁通变化,使所述纳米超导量子干涉器件偏离工作点,利用可编程逻辑电路进行PID反馈逻辑运算,并控制电流源通过反馈线圈在所述纳米超导量子干涉器件上加一个反馈磁通信号,将所述纳米超导量子干涉器件固定回工作点上,通过测量反馈回路的反馈量,得到被检样品的核磁共振波谱信号;根据探测得到的核磁共振波谱信号与所述磁场梯度源产生的梯度磁场的空间分布信息建立被检样品的图像。
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