[发明专利]半导体结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410243358.7 申请日: 2014-06-03
公开(公告)号: CN103985725B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 邢家明;叶菁;高喜峰;施喆天 申请(专利权)人: 豪威科技(上海)有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/8238
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 郑玮
地址: 201210 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种半导体结构,包括基底,所述基底包括连接区以及功能区,所述连接区内包括一连接层;保护绝缘层,位于所述基底的一侧;至少一第一开口,所述第一开口暴露所述连接层,所述第一开口内填充有导电材料形成的导电结构;垫片,位于所述保护绝缘层背离所述基底的一侧,并位于所述连接区上,所述垫片通过所述导电结构与所述连接层相连;金属结构,位于所述保护绝缘层背离所述基底的一侧,并位于所述功能区上。本发明还提供了上述半导体结构的制备方法,所述垫片和所述金属结构的材料可以使用同一金属层,所以,只需制备一层所述金属层,并经过一次选择性刻蚀,即可同时得到所述垫片和所述金属结构,简化工艺,提高产能,降低成本。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种半导体结构,其特征在于,包括:基底,所述基底包括连接区以及功能区,所述连接区内包括一连接层;保护绝缘层,位于所述基底的一侧;至少一第一开口,位于所述基底的一侧,所述第一开口暴露所述连接层,所述第一开口的侧壁具有一侧壁绝缘层,所述第一开口内填充有导电材料形成的导电结构;垫片,位于所述保护绝缘层背离所述基底的一侧,并位于所述连接区上,所述垫片覆盖所述导电结构并通过所述导电结构与所述连接层相连;金属结构,位于所述保护绝缘层背离所述基底的一侧,并位于所述功能区上;保护层,所述保护层位于所述基底的一侧,并覆盖所述垫片和金属结构,所述保护层在所述金属结构之间形成有间隙;滤光片,设置于所述间隙之中。
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