[发明专利]一种物体表面发射率现场校准方法

摘要

本发明公开了一种物体表面发射率现场校准方法。利用铂电阻贴片测量涂料涂层的真实温度值并进行发射率校准，作为校准标靶；将校准标靶紧密贴于现场校准物体上，使用红外热像仪对校准标靶为中心的局部现场校准物体的表面进行测温，获得现场物体表面的温度以及校准标靶上涂料涂层的温度数据；通过现场物体表面的温度以及校准标靶上涂料涂层的温度数据计算得到现场物体表面发射率数值并对现场物体表面发射率进行现场校准。本发明用测温仪对现场校准对象测温，具有测温迅速，精度高，要求现场校准物体表面与校准标靶在同一平面，使背景因素和系统噪声对现场校准目标和校准标靶的影响相同；适用于现场物体表面发射率进行校准，校准设备便于携带。

主权项

一种物体表面发射率现场校准方法，其特征在于，该方法的步骤如下：a)首先利用A级铂电阻贴片对发射率随温度变化幅度在±5％的涂料涂层的真实温度值进行测量，并对涂料涂层进行发射率校准，校准完毕后将涂料涂层制作为校准标靶；b)现场校准物体表面发射率时，将校准标靶紧密贴于现场校准物体上，保持现场校准物体与校准标靶在同一背景同一平面，使用红外热像仪对校准标靶为中心的局部现场校准物体的表面进行测温，得到现场校准物体表面的温度以及校准标靶上涂料涂层的温度数据；c)使用电子温度计对环境温度进行测量，获得环境温度数值；利用测得的校准标靶的涂料涂层温度和环境温度计算得到校准标靶的真实温度；再利用红外热像仪测得的现场校准物体表面温度和计算得到的现场校准物体真实温度推导出准确的现场校准物体表面发射率数值并对现场校准物体表面发射率进行现场校准；公式如下：真实温度：$T_0=f\left({\mathrm{\ϵ}}_0\right)=\sqrt[4]{(T_0^{\′n}-{T_u}^n)/{\mathrm{\ϵ}}_0+{T_u}^n}$现场校准物体表面发射率：$\mathrm{\ϵ}=f({\mathrm{\ϵ}}_0,T_u)=f(\frac{f\left(T_0^{\′}\right)-f\left(T_u\right)}{f\left(T_0\right)-f\left(T_u\right)},T_u)$其中ε₀为校准标靶涂料涂层的发射率，T_u为环境温度，T₀为现场校准物体真实温度，T′₀现场校准物体表面红外热像仪测温所得温度，n的取值根据红外热像仪探测器的不同取值不同。