[发明专利]一种X射线衍射测量热解炭涂层残余应力的方法

摘要

本发明公开了一种X射线衍射测量热解炭涂层残余应力的方法。目前还没有利用X射线衍射法测量热解炭残余应力的完整技术。本发明的具体步骤：对实验样品进行常规X射线检测，得到衍射全谱，确定衍射峰的最大衍射角度2；采用X射线衍射仪，设定扫描起始角、扫描终止角、扫描步距、扫描速度和计数时间，选取六个方位角，测量出实验样品对应每个方位角的晶面衍射角2，计算每个方位角对应的，绘制—离散图，并根据各离散点拟合得到直线斜率；计算残余应力值，式中：为实验样品的弹性模量，为实验样品的泊松比；为实验样品无应力时的半晶面衍射角。本发明在不破坏涂层的前提下，更简便、准确地得到热解炭涂层的残余应力值。

主权项

一种X射线衍射测量热解炭涂层残余应力的方法，其特征在于：该方法的具体步骤如下：步骤1、对实验样品进行常规X射线检测，得到衍射全谱，确定衍射峰的最大衍射角度2θ；步骤2、采用X射线衍射仪，设定扫描起始角为2θ‑2°，扫描终止角为2θ+2°，扫描步距为0.02°，扫描速度为1°/min，计数时间为4.00s，方位角ψ分别选取0°、10°、20°、30°、40°和50°，测量出实验样品对应每个方位角ψ的2θ_ψ值，其中，2θ_ψ为实验样品的晶面衍射角；步骤3、根据六个方位角ψ，分别计算每个方位角ψ对应的sin²ψ，绘制2θ_ψ—sin²ψ离散图，并根据各离散点拟合得到直线斜率步骤4、计算残余应力值式中：E为实验样品的弹性模量，ν为实验样品的泊松比；θ₀为实验样品无应力时的半晶面衍射角，θ₀＝θ。