[发明专利]背景模型更新方法和设备有效

专利信息
申请号: 201410250294.3 申请日: 2014-06-06
公开(公告)号: CN105335951B 公开(公告)日: 2018-06-15
发明(设计)人: 诸加丹;范圣印;王鑫;王千;乔刚 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 胡琪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种背景模型更新方法和设备。所述背景模型更新方法包括:利用所述背景模型获取当前帧灰度图像的前景图像;在所述前景图像中检测扰动像素;基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新。根据本发明实施例的背景模型更新技术基于扰动像素对背景模型进行像素级别的更新,从而大大减少了处理时间和内存。另外,该技术不针对暂时静止的目标对象对背景模型进行更新,从而避免了“鬼影”问题。 1
搜索关键词: 背景模型更新 背景模型 扰动 像素 方法和设备 前景图像 更新 灰度图像 目标对象 像素级别 鬼影 内存 静止 检测
【主权项】:
1.一种背景模型更新方法,包括:

利用所述背景模型获取当前帧灰度图像的前景图像;

在所述前景图像中检测扰动像素;

基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新,

其中在所述前景图像中检测扰动像素进一步包括:

对于所述前景图像中的每个像素计算扰动置信度;

将所述扰动置信度与第一预定阈值进行比较,并确定扰动置信度大于该第一预定阈值的像素为扰动像素,并且

其中所述扰动置信度通过像素的运动矢量和像素的纹理中的至少一种来表示。

2.一种背景模型更新方法,包括:

利用所述背景模型获取当前帧灰度图像的前景图像;

在所述前景图像中检测扰动像素;

基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新,

其中在所述前景图像中检测扰动像素进一步包括:

在所述前景图像中检测感兴趣对象;

从所述前景图像中移除与所述感兴趣对象对应的像素;

对于所述前景图像中剩余的每个像素计算扰动置信度;

将所述扰动置信度与预定阈值进行比较,并确定置信度大于该预定阈值的像素为扰动像素,并且

其中所述扰动置信度通过像素的运动矢量和像素的纹理中的至少一种来表示。

3.如权利要求1或2所述的背景模型更新方法,其中所述基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新包括:对于背景模型中与所述扰动像素对应的各个像素进行更新。

4.如权利要求1或2所述的背景模型更新方法,其中所述基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新包括:

对于前景图像中的各个扰动像素,确定其扰动程度;

将所述扰动程度与第二预定阈值进行比较,并确定扰动程度大于该第二预定阈值的扰动像素为大扰动像素;

对于背景模型中与大扰动像素对应的各个像素进行更新。

5.如权利要求4所述的背景模型更新方法,其中每个所述扰动像素的扰动程度通过该扰动像素的扰动增长率和扰动严重率中的至少一种来表示。

6.如权利要求5所述的背景模型更新方法,

其中每个扰动像素的所述扰动增长率r=Nt‑Nt‑1/Nb,每个扰动像素的所述扰动严重率s=Nt/Nb,其中Nb为所述当前帧灰度图像的前景图像中该扰动像素所属于的预定区域中的像素总数,Nt为所述预定区域中的扰动像素的个数,Nt‑1为前一帧灰度图像的前景图像中与该预定区域对应的区域中的扰动像素的个数。

7.如权利要求1或2所述的背景模型更新方法,其中所述扰动像素是由于光照变化而发生像素值的改变从而对图像处理带来负面影响的像素。

8.一种背景模型更新设备,包括:

前景图像生成单元,配置为利用所述背景模型获取当前帧灰度图像的前景图像;

扰动检测单元,配置为在所述前景图像中检测扰动像素;

更新单元,配置为基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新,

其中所述扰动检测单元进一步配置为:

对于所述前景图像中的每个像素计算扰动置信度;

将所述扰动置信度与第一预定阈值进行比较,并确定扰动置信度大于该第一预定阈值的像素为扰动像素,并且

其中所述扰动置信度通过像素的运动矢量和像素的纹理中的至少一种来表示。

9.一种背景模型更新设备,包括:

前景图像生成单元,配置为利用所述背景模型获取当前帧灰度图像的前景图像;

扰动检测单元,配置为在所述前景图像中检测扰动像素;

更新单元,配置为基于所述扰动像素对所述背景模型进行更新,

其中所述扰动检测单元进一步配置为:

在所述前景图像中检测感兴趣对象;

从所述前景图像中移除与所述感兴趣对象对应的像素;

对于所述前景图像中剩余的每个像素计算扰动置信度;

将所述扰动置信度与预定阈值进行比较,并确定置信度大于该预定阈值的像素为扰动像素,并且

其中所述扰动置信度通过像素的运动矢量和像素的纹理中的至少一种来表示。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410250294.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top