[发明专利]低检出限气体分子电位分析仪

摘要

低检出限气体分子电位分析仪，主要包括：气体导入装置，样品液化装置，气体分子筛选装置，样品分子电位分析装置，电位信号转化装置，标准溶液电位装置，气体分子电位校正装置，分子电荷分析装置，电位响应装置，分子活度修正装置，电位分析显示装置；其中，气体分子筛选装置含有分子筛选隔离膜，该隔离膜材料为五苯胺三嘧啶苯乙酮五溴锕的纳米复合薄膜材料，该隔离膜厚度为2.88um,样品分子电位分析装置含有电位分析电极，该电极材料为三溴苄六喹啉吡啶五碘钌的复合电极材料，电位信号转化装置含有电位信号转化电极，该电极材料为五磺酰三吡啶二氮铕的复合电极材料。

主权项

低检出限气体分子电位分析仪，其特征在于，主要包括：1‑‑气体导入装置，2‑‑样品液化装置，3‑‑气体分子筛选装置，4‑‑样品分子电位分析装置，5‑‑电位信号转化装置，6‑‑标准溶液电位装置，7‑‑气体分子电位校正装置，8‑‑分子电荷分析装置，9‑‑电位响应装置，10‑‑分子活度修正装置，11‑‑电位分析显示装置；其中，气体分子筛选装置（3）含有分子筛选隔离膜，该隔离膜材料为五苯胺三嘧啶苯乙酮五溴锕的纳米复合薄膜材料，该隔离膜厚度为2.88um,样品分子电位分析装置（4）含有电位分析电极，该电极材料为三溴苄六喹啉吡啶五碘钌的复合电极材料，电位信号转化装置（5）含有电位信号转化电极，该电极材料为五磺酰三吡啶二氮铕的复合电极材料。