[发明专利]一种高精度导弹通电寿命的统计方法

摘要

本发明的一种高精度导弹通电寿命的统计方法，包括如下步骤：首先地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能装置获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间；地面测试设备与弹上智能设备建立起通信，命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值，获取寿命时间后进行记录显示。该方法充分利用弹上智能装置中的富余存储空间，开辟两片或多片独立的可单独擦写的空间，从而实现了完整准确的记录整个导弹通电寿命时间的功能。

主权项

1.一种高精度导弹通电寿命的统计方法，其特征在于，包括如下步骤：（a）地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能设备获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间；（b）地面测试设备与弹上智能设备建立起通信，命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值，获取寿命时间后进行记录显示；所述弹上智能设备采用32 bit /16bit/8bit宽度的能够分片独立擦写的FLASH，通过使用双缓存或多缓存区域，交替或连续完成通电时一段时间的记录；当采用双缓存模式时，具体设定I片区的基地址301，在I片区的基地址301里记录一个通电寿命基础时间t0；第一个记录点到来之后，往基地址后续的第一个8bit地址上打一时戳0x00；第二个记录点到来时，往第二个8bit地址上打一时戳，如此持续直至I片区末地址前的所有空间记录完毕一共打了M个时戳，则在I片区的末地址302处和Ⅱ片区的首地址303处记录上当前的寿命值t0+MΔt，此时对片区I进行擦除处理，擦除完毕后片区I恢复到初始状态0xFF；如果在擦除过程中出现断电可能导致第I片区域擦除任务未完成，则下次上电时要分辨出第II片当前记录位置处于首位而第I片还未清除的状态，此时需要重新擦除第I片区域，如果第I片已经擦除干净，则不需再进行擦除处理，直接转至随后顺序记录后续的时刻标识的工作即可，直至第II片区域记录全部打上时戳，直接给Ⅱ片区的末地址305处和I片区的基地址301处记录上t0+2MΔt，同时清除片区II，如此往复，进行数据记录。