[发明专利]半导体装置和测试方法无效
| 申请号： | 201410252640.1 | 申请日： | 2014-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN104422869A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 李东郁 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;李少丹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 测试驱动器选择单元被配置成响应于测试脉冲和测试时钟而将多个测试驱动器选择信号使能，以及多个驱动器被配置成接收多个测试驱动器选择信号，其中，多个驱动器中的每个被配置成响应于测试驱动器选择信号、数据和输出使能信号而将输出信号输出至数据凸块，并且接收第一驱动电压和第二驱动电压。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，包括：测试驱动器选择单元，被配置成响应于测试脉冲和测试时钟而将多个测试驱动器选择信号使能；以及多个驱动器，被配置成接收所述多个测试驱动器选择信号，其中，所述多个驱动器中的每个被配置成响应于测试驱动器选择信号、数据和输出使能信号而将输出信号输出至数据凸块，以及接收第一驱动电压和第二驱动电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司，未经爱思开海力士有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410252640.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
