[发明专利]一种光谱发射率的瞬态测试系统与方法有效
| 申请号： | 201410254098.3 | 申请日： | 2014-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN104076060B | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 符泰然;段明皓;唐佳琦 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人： | 李迪 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光谱发射率的瞬态测试系统及方法，该系统包括样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；判断单元，用于判断所述样品加热单元的加热时间是否达到预设加热时长，若达到预设加热时长，则停止所述样品加热单元的加热，样品自然冷却降温，否则不停止；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 发射 瞬态 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种光谱发射率的瞬态测试系统，其特征在于，该系统包括：样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；判断单元，用于判断所述样品加热单元的加热时间是否达到预设加热时长，若达到预设加热时长，则停止所述样品加热单元的加热，样品自然冷却降温，否则不停止；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱辐射能量反演样品的光谱发射率与温度；所述光谱发射率反演单元，具体用于根据多光谱辐射能量实现降温区间内不同温度、波长下的样品光谱发射率及温度同时反演。
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