[发明专利]生长在Si衬底上的LED外延片及其制备方法有效
申请号: | 201410256386.2 | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN104037287B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 李国强 | 申请(专利权)人: | 广州市众拓光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/16;H01L33/00 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)44288 | 代理人: | 汤喜友 |
地址: | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种生长在Si衬底上的LED外延片及其制备方法,其采用如下制备方法获得:采用Si衬底,选择Si衬底(111)面偏(100)方向0.5‑1°的晶体取向,先生长出第一AlN缓冲层,再依次生长第二AlN缓冲层、AlGaN步进缓冲层、u‑GaN层、n‑GaN层、InGaN/GaN量子阱层及p‑GaN层。本发明使用Si为衬底,同时结合金属有机化学气相沉积工艺和脉冲激光沉积工艺,避开采用金属有机化学气相沉积工艺生长AlN所需经过的预铺Al工序,防止高温下Si扩散至AlN缓冲层破坏表面形貌,获得的LED外延片性能好、晶体质量高,适合应用在LED器件中。 | ||
搜索关键词: | 生长 si 衬底 led 外延 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
生长在Si衬底上的LED外延片,其特征在于:其包括Si衬底,生长在Si衬底上的第一AlN缓冲层,在第一AlN缓冲层上依次生长出第二AlN缓冲层、AlGaN步进缓冲层、u‑GaN层、n‑GaN层、InGaN/GaN量子阱层及p‑GaN层;所述Si衬底的晶体取向为(111)晶面朝(100)方向偏0.5‑1°;其中,采用脉冲激光沉积工艺生长第一AlN缓冲层,工艺条件为:衬底温度为650‑850℃,反应室压力为1‑10m Torr,Ⅴ/Ⅲ比为30‑50,生长速度为0.5‑0.7ML/s;采用金属有机化学气相沉积工艺生长第二AlN缓冲层,工艺条件为:衬底温度为860‑960℃,反应室压力为50‑100Torr,Ⅴ/Ⅲ比为1000‑2500,生长速度为0.1‑0.2μm/h。
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