[发明专利]一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法

摘要

本发明公开了一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法，该方法包括设计磁路仿真模型、编写仿真程序、设计影响因子水平表并生成正交试验表、执行仿真程序并得到仿真结果、计算漏磁信号、进行相关数据统计分析、得到最优磁路设计等步骤。本发明结合漏磁检测系统磁路优化设计，基于大量数学分析和仿真，提出了一种新的磁路优化方法，其能够在有限的试验次数获得与遍历试验相似的试验结果，节省了计算时间和大规模的数据处理，提高了磁路优化的准确性和效率。

主权项

一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：步骤1：设计磁路仿真模型；步骤2：编写仿真程序；步骤3：设计影响因子水平表，并根据水平数和影响因子数计算生成正交试验表；步骤4：根据正交试验表，执行仿真程序并得到仿真结果；步骤5：将仿真结果通过公式xleakage＝xmax‑xmin计算得出漏磁信号，选取该漏磁信号的大小作为衡量标准，其中xmax为轴向分量漏磁场最大幅值，xmin为漏磁场最小值作为本底噪声估计；步骤6：进行四种数据的统计分析，其中，在正交试验表中添加仿真结果，根据仿真结果进行极差分析、平方和计算、F比计算、因子贡献率四种数据的统计分析，具体在步骤6中，其中极差分析得到每个影响因子的三个水平中的最优值，根据极差分析结果可进行平方和计算，进而得到F比计算的结果和因子贡献率分析的结果，F比计算的结果和因子贡献率分析的结果均反映不同影响因子对整个磁路设计的影响水平，基于得到的结果进行综合分析；以及步骤7：得到最优磁路设计，其中，综合F比计算中显著性水平值和因子贡献率的百分比，得到对磁路优化最重要的影响因子，挑选极差计算中最高的水平为其参数，其他影响因素根据实际情况尽可能选择极差计算中的最高水平，从而得到最优的影响因子参数组合，根据该组合得到最优磁路设计。