[发明专利]一种用于硅纳米线芯片检测生物分子的数据分析方法

摘要

本发明公开一种用于硅纳米线芯片检测生物分子的数据分析方法，包括以下步骤：获得硅纳米线的伏安特性曲线函数；对伏安特性曲线函数求导获得电导函数，电导函数仅与电压相关；在规定的电压范围内，对电导函数进行定积分，得到规定的电压范围内电导的表征量；获得上样前后同一硅纳米线芯片结构的电导变化比值的表征量；以及计算电导变化比值的表征量的倒数获得硅纳米线的电阻变化比值。本发明针对硅纳米线的电阻的特点，采用伏安特性曲线函数经多阶函数拟合后求导获得电导函数，在一定范围内对电导求定积分，得到一个可以表征电导的量，利用该量对样品检测前后的电导的变化进行比较，进而推算出电阻的变化比值，实现对特定分子进行检测的目的。

主权项

一种用于硅纳米线芯片检测生物分子的数据分析方法，其特征在于，包括以下步骤：获得所述硅纳米线的伏安特性曲线函数；对所述伏安特性曲线函数求导获得电导函数，所述电导函数仅与电压相关；在规定的电压范围内，对所述电导函数进行定积分，得到所述规定的电压范围内电导的表征量AUC；获得生物分子上样前后同一硅纳米线芯片结构的电导变化比值的表征量AUC/AUC₀；以及计算电导变化比值的表征量的倒数获得硅纳米线的电阻变化比值，即R/R₀。