[发明专利]电子设备的存储器性能的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410265879.2 | 申请日： | 2014-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN105304140B | 公开（公告）日： | 2018-07-13 |
| 发明（设计）人： | 王颢 | 申请（专利权）人： | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;马敬 |
| 地址： | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电子设备的存储器性能的测试方法及装置。该方法包括：接收开始测试指令；响应开始测试指令，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，并确定通过I/O接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间，其中，该预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入该存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从存储器中读取已写入的数据；确定读取数据所消耗的第二总时间；依据第一总时间和第二总时间，确定存储器的性能结果。可见，本方案可以实现提高电子设备的存储器性能的测试准确性的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 预定测试 写入 存储器性能 电子设备 测试方法及装置 测试指令 读取 测试准确性 消耗 性能结果 响应 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备的存储器性能的测试方法，其特征在于，包括：接收开始测试指令；响应所述开始测试指令，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，并确定通过I/O接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据，并确定通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间；依据所述第一总时间和所述第二总时间，确定所述存储器的性能结果；其中，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，包括：通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，继续执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。
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