[发明专利]深沟槽电容器有效
申请号: | 201410268473.X | 申请日: | 2014-06-16 |
公开(公告)号: | CN104253019B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 陈志明;王嗣裕;喻中一 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L23/64 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种形成电容器结构的方法,包括在凹槽的底部和侧壁上方以及衬底表面上方沉积均匀厚度的多层第一多晶硅(POLY)层,其中,多层第一多晶硅(POLY)层通过多层氧化物/氮化物/氧化物(ONO)层彼此分隔开。在多层第一多晶硅层上方沉积第二多晶硅层,第二多晶硅层通过ONO层与第一多晶硅层分隔开,并且第二多晶硅层填充凹槽的剩余部分。使用第一化学机械抛光(CMP)去除第二多晶硅层和第二ONO层的部分。使用第一图案化和蚀刻工艺去除表面上的多层第一多晶硅层的每层和第一ONO层不在电容器结构的掺杂区域内的部分,从而暴露多层第一多晶硅层的每层的顶面以用于接触件形成。本发明涉及深沟槽电容器。 | ||
搜索关键词: | 深沟 电容器 | ||
【主权项】:
一种形成电容器结构的方法,包括:在衬底内形成的凹槽的底部区域和侧壁上方及衬底的表面上方沉积第一介电层;在所述第一介电层上方沉积第一厚度的第一导电层,其中,所述第一厚度在所述表面、所述底部区域和所述侧壁上是基本均匀的,所述第一导电层具有第一上平面;在所述第一导电层上方沉积第二介电层;在所述第二介电层上方沉积第二厚度的第二导电层,其中,所述第二导电层填充未由所述第一导电层填充的所述凹槽的剩余部分,并且其中,所述第二厚度在所述表面上是基本均匀的,所述第二导电层具有第二上平面,并且所述第二上平面与所述第一上平面共面;去除所述第二导电层和所述第二介电层不在所述凹槽内的部分;去除所述表面上的所述第一导电层和所述第一介电层不在所述凹槽的局部区域内的部分;以及将第一接触件形成至所述表面上方的所述第一导电层,将第二接触件形成至所述凹槽上方的所述第二导电层,并且将第三接触件形成至所述衬底的掺杂区域内的衬底,其中,所述第一导电层和所述第二导电层用作所述电容器结构的电极板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410268473.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种污染土壤异位解吸脱附修复装置
- 下一篇:插拔式终端配电产品
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造