[发明专利]基于合成回路的晶闸管正向恢复特性测试装置及测试方法有效
申请号: | 201410268804.X | 申请日: | 2014-06-17 |
公开(公告)号: | CN105182222A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 高冲;崔航;王高勇;周万迪;魏晓光;曹均正 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网智能电网研究院;中电普瑞电力工程有限公司;国网山东省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01R31/26 |
代理公司: | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐国文 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及直流输电换流阀的测试装置及其测试方法,具体涉及一种基于合成回路的晶闸管正向恢复特性测试装置及测试方法。测试装置包括恒流电压源、试品晶闸管T、二极管D、可调电容器C、可调饱和电抗器L、加热回路、冲击发生器以及阻尼回路;测试方法采用两套电源系统分别为试品晶闸管提供充电电压、正向高压,试验时将恒流源输出的电流和冲击电压发生器输出的电压交替施加于被试晶闸管上。本发明能够满足对大功率半导体器件在不同电压、不同频率、不同触发信号、不同结温、不同电流峰值和不同di/dt条件下进行正向恢复特性试验;测试方法简单易实现,所需设备容量小,装置成本低。 | ||
搜索关键词: | 基于 合成 回路 晶闸管 正向 恢复 特性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于合成回路的大功率晶闸管正向恢复特性测试装置,其特征在于,所述测试装置包括恒流电压源、试品晶闸管T、二极管D、可调电容器C、可调饱和电抗器L、加热回路、冲击发生器以及阻尼回路;所述可调电容器C的一端与恒流电压源的正极连接,电抗器L1的一端与恒流电压源的正极连接,电抗器L1的另一端与二极管D的阳极连接,所述二极管D的阴极分别与可调饱和电抗器L的一端和冲击发生器的一端连接;所述可调饱和电抗器L的另一端与阻尼回路‑试品晶闸管T并联支路连接后与所述冲击发生器并联;所述阻尼回路‑试品晶闸管T并联支路由并联的阻尼回路和试品晶闸管T组成,所述试品晶闸管T与加热回路并联;所述加热回路将试品晶闸管T加热到试验结温;所述恒流电压源的负极、可调电容器C的另一端、试品晶闸管T的阴极、阻尼回路的阻尼电阻以及冲击发生器的另一端均接地。
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