[发明专利]曲面法矢测量精度的优化方法有效

专利信息
申请号: 201410271432.6 申请日: 2014-06-18
公开(公告)号: CN104019779A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 陈恳;高雨浩;吴丹;王国磊;宋立滨;杨向东;付成龙;徐静;刘莉;杨东超 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/20
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 代理人: 张向琨
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种曲面法矢测量精度的优化方法,包括步骤:S1,对整个待测工件曲面进行截面曲率分析:分别获得与X轴、Y轴垂直的一组截面截取曲面后获得曲线的曲率|K|X、|K|Y;S2,初步设计距离传感器间距并初步优化曲面法矢测量精度:根据|K|X、|K|Y的最大值,根据R≤0.1×|r|min=(10×|K|max)-1初步设计RY、RX;根据找出测量区域内λKY、λKX的最大值;根据通过优化RY的取值获得αX精度;根据通过优化RX的取值获得αY精度;S3,根据优化结果改变距离传感器间距并进一步优化:根据S2中优化的结果重新设计RY、RX;根据|K|X、|K|Y及新的RY、RX的设计,找出测量区域内λKY、λKX的最大值;根据计算式进一步优化RY、RX的取值;若优化后的RY、RX与前一步优化结果的相差符合要求,则作为最终优化结果;反之,则重复步骤S3,直至取得所需的优化结果。
搜索关键词: 曲面 测量 精度 优化 方法
【主权项】:
一种曲面法矢测量精度的优化方法,其特征在于,包括步骤:S1,对整个待测工件曲面(4)进行截面曲率分析:获得与X轴垂直的一组截面截取曲面后获得曲线的曲率|K|X;获得与Y轴垂直的一组截面截取曲面后获得曲线的曲率|K|Y;S2,初步设计距离传感器间距并初步优化曲面法矢测量精度:根据获得的|K|X、|K|Y的最大值,根据R≤0.1×|r|min=(10×|K|max)‑1初步设计RY、RX;根据公式<mrow><msub><mi>&lambda;</mi><mi>K</mi></msub><mo>=</mo><mn>1.02</mn><msub><mrow><mo>|</mo><mi>K</mi><mo>|</mo></mrow><mi>max</mi></msub><mfrac><mrow><msqrt><mn>1.02</mn><msub><mrow><mo>|</mo><mi>K</mi><mo>|</mo></mrow><mi>max</mi></msub></msqrt><mo>-</mo><msqrt><msub><mrow><mo>|</mo><mi>K</mi><mo>|</mo></mrow><mi>min</mi></msub></msqrt></mrow><mrow><msqrt><mn>1.02</mn><msub><mrow><mo>|</mo><mi>K</mi><mo>|</mo></mrow><mi>max</mi></msub></msqrt><mo>+</mo><msqrt><msub><mrow><mo>|</mo><mi>K</mi><mo>|</mo></mrow><mi>min</mi></msub></msqrt></mrow></mfrac><mo>,</mo></mrow>找出测量区域内λKY、λKX的最大值;根据法矢测量精度计算式通过优化RY的取值获得所需的αX精度;根据法矢测量精度计算式通过优化RX的取值获得所需的αY精度;S3,根据优化结果改变距离传感器间距并进一步优化:根据S2中优化的结果重新设计RY、RX;根据|K|X、|K|Y及新的RY、RX的设计,找出测量区域内λKY、λKX的最大值;根据法矢测量精度计算式进一步优化RY、RX的取值;通过优化后的RY、RX与前一步优化的结果相差符合要求,则作为最终优化结果;反之,则重复步骤S3,直至取得所需的优化结果。
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