[发明专利]曲面法矢测量精度的计算方法有效
申请号: | 201410272692.5 | 申请日: | 2014-06-18 |
公开(公告)号: | CN104006781B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 吴丹;陈恳;高雨浩;郑林斌;何凤涛;徐静;王国磊;郭喜锋;宋立滨;杨向东;付成龙;刘莉;徐菁;谢颖 | 申请(专利权)人: | 清华大学;成都飞机工业(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/20 |
代理公司: | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙)11387 | 代理人: | 张向琨 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种曲面法矢测量精度的计算方法,其包括步骤:S1,计算菱形布局距离传感器在截面YOZ中的误差:用截面YOZ截取待测曲面获得待测曲线,建立二维法矢测量误差模型,并将二维法矢测量误差δX分为由曲线曲率变化带来的误差δXP和由距离传感器测距带来的误差δXI;计算δXI的范围为假定距离传感器测距没有误差,获得tanδXP的范围为根据得出的δXI及δXP的范围,得到YOZ截面内测得的曲线法矢绕X转轴的最大误差δX=|δXI|max+|δXP|max;S2,计算菱形布局距离传感器在截面XOZ中的误差:在XOZ截面中采用与步骤S1相同的计算过程,得到XOZ截面内测得的曲线法矢绕Y转轴的最大误差δY=|δYI|max+|δYP|max;S3,计算三维法矢测量的精度:三维法矢测量的精度为Δ,则三维法矢测量的精度Δ计算式为(tanΔ)2=(tanδX)2+(tanδY)2。 | ||
搜索关键词: | 曲面 测量 精度 计算方法 | ||
【主权项】:
一种曲面法矢测量精度的计算方法,其中,曲面法矢测量装置包括:法兰基准面,安装于移动驱动装置;四个支架,安装在法兰基准面上;四个距离传感器,分别安装于四个支架,使各距离传感器的轴线垂直于法兰基准面且顶表面设置有测头点,用于检测工件曲面的距离,其中,各距离传感器的测头点到法兰基准面的垂直投影点的连线构成菱形ABCD的四个顶点,四个距离传感器的测头点到工件曲面的垂直投影点分别对应为A’、B’、C’、D’,且使菱形ABCD的中心点O为工件曲面上待测点O’在法兰基准面上的投影;以菱形ABCD的中心点O为原点、菱形ABCD的对角线AC为Y轴及Y转轴、菱形ABCD的对角线BD为X轴及X转轴、菱形ABCD的中心点O与待测点O’之间的连线为Z轴建立测量坐标系,通过距离传感器测得菱形ABCD的四个顶点到工件曲面的垂直距离分别为AA’=hA、BB’=hB、CC’=hC、DD’=hD,且AO=CO=RY、BO=DO=RX,其特征在于,所述曲面法矢测量精度的计算方法包括步骤:S1,计算菱形布局距离传感器在截面YOZ中的误差,包括子步骤:S11,用截面YOZ截取待测曲面获得待测曲线,建立二维法矢测量误差模型,并将二维法矢测量误差δX分为由曲线曲率变化带来的误差δXP和由距离传感器测距带来的误差δXI:假定通过测量和调整使距离传感器A点和C点到工件曲面的垂直距离hA和hC读数相等,由于距离传感器误差,hA不严格等于hC,因此带来误差δXI;由于曲率变化,O’法矢并不垂直于A’C’,因此带来误差δXP;S12,计算δXI:假定距离传感器到中心的距离为RY,其测量最大误差为±δh,则δXI的范围为S13,假定距离传感器测距没有误差,计算δXP:建立二维数学模型,假定待测曲线函数式为y=f(x),误差tanδXP=|f′(0)|;针对由曲线曲率变化带来的误差δXI的部分,假定传感器测距无误差,即有f(‑R)=f(R);通过微分中值定理可得f′(0)=ζf″(η),其中ζ∈(‑R,R)使f′(ζ)=0,η∈(0,ζ);曲率范围为|K|min≤|K|≤|K|max,为了保证测量高精度,设计距离传感器布局时保证R≤0.1×|r|min=(10×|K|max)‑1,其中r为曲率半径,通过计算可求得|f″(η)|≤1.02|K|max及从而获得tanδXP的范围为S14,计算曲线法矢测量在截面YOZ中的最大误差:根据得出的δXI及δXP的范围,得到YOZ截面内测得的曲线法矢绕X转轴的最大误差δX=|δXI|max+|δXP|max;S2,计算菱形布局距离传感器在截面XOZ中的误差在XOZ截面中采用与步骤S1的子步骤S11‑S14相同的计算过程,得到XOZ截面内测得的曲线法矢绕Y转轴的最大误差δY=|δYI|max+|δYP|max;S3,计算三维法矢测量的精度三维法矢测量的精度为Δ,则三维法矢测量的精度Δ计算式为(tanΔ)2=(tanδX)2+(tanδY)2。
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