[发明专利]距离改变的干涉测量确定有效
申请号: | 201410273031.4 | 申请日: | 2014-06-18 |
公开(公告)号: | CN104237894B | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 伊斯·萨尔瓦德;F·皮尔扎格达;马塞尔·罗纳 | 申请(专利权)人: | 赫克斯冈技术中心 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 吕俊刚,刘久亮 |
地址: | 瑞士赫*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 距离改变的干涉测量确定。通过干涉测量法确定到对象的距离的改变的方法包括从激光二极管发射测量激光;接收测量激光的至少一部分;使反射的测量激光与基准激光叠加而提供干涉测量相位;根据叠加确定到对象的距离的改变。利用低相干性和宽光谱带宽发射测量激光,其中测量激光的发射波长在光谱带宽内无跳变地波动,导致干涉测量相位波动。以第一检测速率连续检测干涉测量相位,该检测速率高以致连续地增量跟踪干涉测量相位波动,使得由干涉测量相位的连续检测提供的连续干涉测量相位状态相差低于π的相移。此外,检测到的相位波动在限定的平均时段内被平均并得到平均相位。根据平均相位以与平均时段相关的第二检测速率确定到对象的距离的改变。 | ||
搜索关键词: | 距离 改变 干涉 测量 确定 | ||
【主权项】:
一种用于利用以下步骤通过干涉测量法确定到对象的距离的改变的方法:·从激光二极管(11,31,50)发射测量激光(47,51,52);·接收从所述对象反射的所述测量激光的至少一部分(52);·使经反射的测量激光(52)与基准激光(49,54)叠加,进而提供干涉测量相位;以及·根据所述叠加来确定到所述对象的距离的改变,所述方法的特征在于:·利用低相干性和宽光谱带宽来发射所述测量激光(47,51,52),其中,所述测量激光(47,51,52)的发射波长(15)在所述光谱带宽内无跳变地波动从而导致干涉测量相位波动(61);·按照第一检测速率(63)连续地检测所述干涉测量相位,所述检测速率(63)以及用于处理所检测到的干涉测量相位的速率是那么高以致所述干涉测量相位波动(61)被连续地增量式地跟踪,使得由所述干涉测量相位的连续检测所提供的连续干涉测量相位状态相差小于π的相移,·针对限定的平均时间段(62)来计算所检测到的相位波动(61)的平均值并且得到平均相位(64),以及·根据所述平均相位(64)按照第二检测速率(65)来确定到所述对象的距离的改变,所述第二检测速率(65)与所述平均时间段(62)相关联。
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