[发明专利]基于金属线栅的法布里‑珀罗THz波长测量仪及测量方法

摘要

本发明公开了一种基于金属线栅的宽波长范围法布里‑珀罗THz波长测量仪及其测量方法，所述的测量方法包括以下步骤a由两个设有金属半圆仪的金属线栅组成F‑P腔；b通过所测THz波波长与其对应金属线栅的立杆最佳偏转角度对应关系图来确定偏转角度，然后根据所确定的偏转角度通过金属半圆仪对金属线栅的立杆进行相应偏转调整；c驱动第二金属线栅的水平电动位移平台，当THz功率计出现相邻的两个功率峰值时，记下第二金属线栅的移动距离x；d计算波长，波长＝2nx,n为折射率。本发明在测量不同波长的THz波时，不需要更换不同参数的金属线栅，就能测量100～1000微米内任意波长的THz波。

主权项

一种基于金属线栅的宽波长范围法布里‑珀罗THz波长测量仪的测量方法，所述基于金属线栅的宽波长范围法布里‑珀罗THz波长测量仪包括位于THz波输入端的第一金属线栅、位于THz波输出端的第二金属线栅和用于接收透过第二金属线栅的THz波的THz功率计，由第一金属线栅与第二金属线栅组成F‑P腔；所述第一金属线栅，包括由左侧立杆、右侧立杆、底部横杆与顶部横杆构成并呈平行四边形的金属线固定架，金属固定架设置有中部横杆，上述各立杆与各横杆相接部位采用铰接方式连接在一起，上述各立杆与横杆均为片状金属杆，在中部横杆与顶部横杆上均刻有若干个周期性的金属线固定凹槽，中部横杆上的金属线固定凹槽与顶部横杆上的金属线固定凹槽数量相同且一一对应，在任意一对相对应的金属线固定凹槽之间固定一根金属线，所有金属线相互平行且等间距排布，在左侧立杆或右侧立杆设置有能够调整立杆偏转角度并自身带有角度刻度的金属半圆仪，上述底部横杆安放在光学平台上；所述第二金属线栅，包括由左侧立杆、右侧立杆、底部横杆与顶部横杆构成并呈平行四边形的金属线固定架，金属固定架设置有中部横杆，上述各立杆与各横杆相接部位采用铰接方式连接在一起，上述各立杆与横杆均为片状金属杆，在中部横杆与顶部横杆上均刻有若干个周期性的金属线固定凹槽，中部横杆上的金属线固定凹槽与顶部横杆上的金属线固定凹槽数量相同且一一对应，在任意一对相对应的金属线固定凹槽之间固定一根金属线，所有金属线相互平行且等间距排布，在左侧立杆或右侧立杆设置有能够调整立杆偏转角度并自身带有角度刻度的金属半圆仪，上述底部横杆固定在水平电动位移平台上，水平电动位移平台安放在光学平台上；上述第一金属线栅与第二金属线栅通过框架连接在一起，第二金属线栅与框架之间为滑动配合或可拆分连接；其特征在于所述测量方法包括以下步骤：a通过所测THz波波长与其对应金属线栅的立杆最佳偏转角度对应关系图来确定偏转角度，然后根据所确定的偏转角度通过各金属线栅的金属半圆仪对金属线栅的立杆进行相应偏转调整；b驱动第二金属线栅的水平电动位移平台，当THz功率计出现相邻的m个功率峰值时记下第二金属线栅的移动距离xm，m为功率峰值的个数，是大于等于2的正整数，x＝xm/(m‑1)；c计算波长，波长＝2nx，n为空气折射率。