[发明专利]一种超细铝粉颗粒表面氧化层等效厚度的检测方法有效
| 申请号： | 201410287176.X | 申请日： | 2014-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN104075682A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 傅明喜;李冬升 | 申请（专利权）人： | 江苏大学 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08;G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 212000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超细铝粉颗粒表面氧化层等效厚度的检测方法，通过对超细铝粉样品进行X射线结构检测，根据PDF图谱进行氧化物物种的分析，确定铝粉颗粒中氧化铝物种的存在；对铝粉进行颗粒分布检测，每个样品进行三次检测，确定铝粉的体积平均径D；分别检测原材料1A99工业纯铝在加热过程中的吸热量值△H0和所制备的铝粉在加热过程中的吸热量值△H，根据物相转变的热力学特点，确定铝粉颗粒中氧化铝质量百分含量与吸热量值△H0、吸热量值△H之间的关系；根据铝粉颗粒结构以及氧化铝的质量百分含量计算氧化层等效厚度。本发明检测方法简便、直观，符合生产过程，具有较高的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超细铝粉 颗粒 表面 氧化 等效 厚度 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种超细铝粉颗粒表面氧化层等效厚度的检测方法，其特征在于包括以下步骤：(1)氧化物物种确定：对超细铝粉样品进行X射线结构检测，根据PDF图谱进行氧化物物种的分析，确定铝粉颗粒中氧化铝物种的存在；(2)铝粉颗粒体积平均径的检测：对铝粉进行颗粒分布检测，每个样品进行三次检测，确定铝粉的体积平均径D；(3)铝粉颗粒中氧化铝质量百分含量的确定：分别检测原材料1A99工业纯铝在加热过程中的吸热量值△H0和所制备的铝粉在加热过程中的吸热量值△H，根据物相转变的热力学特点，确定铝粉颗粒中氧化铝质量百分含量与吸热量值△H0、吸热量值△H之间的关系；(4)根据铝粉颗粒结构以及氧化铝的质量百分含量计算氧化层等效厚度。
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