[发明专利]一种储层微观孔隙结构的表征方法有效
| 申请号： | 201410287262.0 | 申请日： | 2014-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN104089863A | 公开（公告）日： | 2014-10-08 |
| 发明（设计）人： | 李建明;金旭;王晓琦 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 党晓林;李永强 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种储层微观孔隙结构的表征方法，以能够表征小于50纳米的储层微观孔隙结构。本申请所提供一种储层微观孔隙结构的表征方法包括：S1，制作储层薄片；S2，利用所述储层薄片制作储层薄片电极；S3，利用电化学沉积在所述储层薄片电极的储层薄片内部孔隙中沉积结晶物；S4，去除所述沉积结晶物的储层薄片的岩石部分以获得所述结晶物；S5，扫描所获得结晶物的形貌，所述扫描结果即为储层微观孔隙结构。通过本申请所提供的方法，能够有效表征出小于50纳米的储层微观孔隙结构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微观 孔隙 结构 表征 方法 | ||
【主权项】：
一种储层微观孔隙结构的表征方法，其特征在于，包括以下步骤：制作储层薄片；利用所述储层薄片制作储层薄片电极；利用电化学沉积在所述储层薄片电极的储层薄片内部孔隙中沉积结晶物；去除所述沉积结晶物的储层薄片的岩石部分以获得所述结晶物；扫描所获得结晶物的形貌。
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