[发明专利]探测器装置、双能CT系统和使用该系统的检测方法在审

专利信息
申请号: 201410291326.4 申请日: 2014-06-25
公开(公告)号: CN105242322A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 陈志强;张丽;金鑫;黄清萍;沈乐;孙运达 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;G01N23/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴敬莲
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种探测器装置,包括多个探测器组件,每个组件包括:沿第一方向间隔排布的至少一个具有第一能量响应的探测晶体单元,每个这种探测晶体单元包括沿第二方向布置的至少一个具有第一能量响应的探测晶体,第二方向垂直于第一方向;沿第一方向间隔排布的至少一个具有第二能量响应的探测晶体单元,每个这种探测晶体单元包括沿第二方向布置的至少一个具有第二能量响应的探测晶体,第二能量高于第一能量;沿X射线入射方向观察时具有第一能量响应的探测晶体单元和具有第二能量响应的探测晶体单元沿第一方向至少部分地交错排布。本发明还公开一种具有该探测器装置的双能CT系统及用该系统进行CT检测的方法。
搜索关键词: 探测器 装置 ct 系统 使用 检测 方法
【主权项】:
一种用于双能CT系统的探测器装置,所述双能CT系统包括扫描通道,其中被扫描物品沿传送方向通过所述扫描通道进出所述双能CT系统;设置在扫描通道一侧的X射线源;以及设置在所述扫描通道相对一侧的用于安装所述探测器装置的探测臂架,其中所述探测器装置包括多个探测器组件,每个探测器组件包括:沿第一方向间隔排布的至少一个具有第一能量响应的探测晶体单元,每个具有第一能量响应的探测晶体单元包括沿第二方向布置的至少一个具有第一能量响应的探测晶体,其中第一方向平行于传送方向,第二方向垂直于第一方向;以及沿第一方向间隔排布的至少一个具有第二能量响应的探测晶体单元,每个具有第二能量响应的探测晶体单元包括沿第二方向布置的至少一个具有第二能量响应的探测晶体,其中第二能量高于第一能量;其中沿X射线的入射方向观察时所述至少一个具有第一能量响应的探测晶体单元和所述至少一个具有第二能量响应的探测晶体单元沿第一方向至少部分地交错排布。
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