[发明专利]一种透光结构的应力检测装置和检测方法在审
| 申请号： | 201410295714.X | 申请日： | 2014-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN104089728A | 公开（公告）日： | 2014-10-08 |
| 发明（设计）人： | 曾智辉;刘芳;冯鸿博;苏跃峰;董瑞君 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种透光结构的应力检测装置和检测方法，涉及显示技术领域，能够对透光结构的应力分布状态进行检测。该透光结构的应力检测装置包括：光源、第一偏振片和光强分布状态检测单元和应力分布状态分析单元；其中，所述光源出射均匀的偏振光，检测过程中，所述第一偏振片和所述光源分别位于所述透光结构的两侧，所述光强分布状态检测单元用于获取射出所述第一偏振片的偏振光的光强分布状态；所述应力分布状态分析单元用于根据所述光强分布状态获得所述透光结构的应力分布状态。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 透光 结构 应力 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种透光结构的应力检测装置，其特征在于，包括：光源、第一偏振片和光强分布状态检测单元和应力分布状态分析单元；其中，所述光源出射均匀的偏振光，检测过程中，所述第一偏振片和所述光源分别位于所述透光结构的两侧，所述光强分布状态检测单元用于获取射出所述第一偏振片的偏振光的光强分布状态；所述应力分布状态分析单元用于根据所述光强分布状态获得所述透光结构的应力分布状态。
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