[发明专利]基于产生脉冲序列的单次脉冲的信噪比测量装置及方法有效
申请号: | 201410298229.8 | 申请日: | 2014-06-26 |
公开(公告)号: | CN104075815B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 刘红军;韩靖;孙启兵;黄楠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 陈广民 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明属于光学技术领域,涉及一种测量装置及方法,具体涉及一种基于产生脉冲序列的单次脉冲的信噪比测量装置及方法。该装置包括分束镜、双面反射镜、反射镜、第一和频晶体、第二和频晶体、二向色镜、λ/2半波片、透镜、步进电机以及探测器CCD;被测单次脉冲被上述元件获得三次谐波脉冲序列的强度随延迟量变化的曲线,通过该曲线计算被测单次脉冲的信噪比;本发明的方法原理简单,装置结构紧凑,调试简单、测试精度高。 | ||
搜索关键词: | 基于 产生 脉冲 序列 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于产生脉冲序列的单次脉冲的信噪比测量装置的测量方法,其特征在于:采用的测量装置包括分束镜、双面反射镜、反射镜、第一和频晶体、第二和频晶体、二向色镜、λ/2半波片、透镜、步进电机以及探测器CCD;所述分束镜将被测单次脉冲分成第一基频脉冲和第二基频脉冲;所述第一基频脉冲的光路上正对设置有双面反射镜;所述第二基频脉冲的光路依次设置有反射镜、第一和频晶体、二向色镜和λ/2半波片;所述第一基频脉冲经双面反射镜后形成的等时间间隔、脉冲强度递减的脉冲序列;所述第二基频脉冲经反射镜、第一和频晶体、二向色镜和λ/2半波片后形成倍频脉冲;所述倍频脉冲的行进路线方向与所述脉冲序列相同且相互平行;所述倍频脉冲的偏振方向与脉冲序列相互平行;所述脉冲序列和倍频脉冲经过透镜的聚焦后经过第二和频晶体产生三次谐波脉冲序列;所述步进电机位于脉冲序列的行进路线上或倍频脉冲的行进路线上或第二和频晶体与探测器CCD之间;所述三次谐波脉冲序列垂直入射至探测器CCD;采用所述测量装置的测量方法步骤是:1)被测单次脉冲的分束;被测单次脉冲经过分束镜分成第一基频脉冲和第二基频脉冲;2)三次谐波脉冲序列的获取;2.1)第一基频脉冲正射入双面反射镜,经双面反射镜的前后两个镜面多次反射,产生等时间间隔、脉冲强度递减的脉冲序列;同时,所述第二基频脉冲依次经过反射镜、第一和频晶体、二向色镜和λ/2半波片产生倍频脉冲;所述倍频脉冲的行进路线方向与所述脉冲序列相同且相互平行;所述倍频脉冲的偏振方向与脉冲序列相互平行;2.2)调节延迟量使得所述脉冲序列和倍频脉冲分别通过透镜后同步到达第二和频晶体,产生三次谐波脉冲序列;3)被测单次脉冲信噪比获取;3.1)所述三次谐波脉冲序列正射入探测器CCD,得到三次谐波脉冲序列强度随延迟量发生变化的相关曲线;所述曲线由若干个峰组组成,每个峰组包括左侧峰、中间峰以及右侧峰,一个峰组代表一个三次谐波脉冲信号;曲线的横坐标为延迟量,纵坐标为三次谐波脉冲序列强度;3.2)根据步骤3.1)中获得曲线,计算被测单次脉冲的信噪比;3.2.1)根据曲线得到每个峰组的左侧峰、中间峰以及右侧峰的强度值;3.2.2)计算中间峰/左侧峰、左侧峰/右侧峰、中间峰/右侧峰的强度值之比,得到每个峰组的三个信噪比;3.2.3)累加所有峰组的信噪比,求平均值,得出被测单次脉冲的信噪比。
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