[发明专利]一种基于紫外成像的高压复合绝缘子故障检测的方法在审
申请号: | 201410299542.3 | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN104101818A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | 胡大伟;苑舜;鲁旭臣;李学斌;李斌;朱义东;韩洪刚;迟丹一;苑经纬;耿莉娜 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 辽宁沈阳国兴专利代理有限公司 21100 | 代理人: | 何学军 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及高压电力设备检测技术领域,特别是涉及一种基于紫外成像的高压复合绝缘子故障检测的方法。本发明是利用紫外成像仪对放电强度进行量化的方法,将临界闪络时刻的放电参数与紫外特征参数加以对应,获得基于紫外成像的复合绝缘子闪络前状态诊断判据。本发明建立放电等离子体参数、放电紫外辐射强度与电场强度三大参数之间相互对应的“三大关系”,最终取得了利用紫外成像检测棒形悬式绝缘子的闪络前状态诊断判据,并引入等离子体能级的概念,得到了基于等离子体能级的复合绝缘子闪络前状态诊断判据,有利于现场检测。适于在高压电力设备检测技术领域推广和应用,并具有积极的社会效益和经济效益。 | ||
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【主权项】:
一种基于紫外成像的高压复合绝缘子故障检测的方法,其特征是:利用紫外成像仪对放电强度进行量化的方法,将临界闪络时刻的放电参数与紫外特征参数加以对应,获得基于紫外成像的复合绝缘子闪络前状态诊断判据;本发明具体操作步骤如下:(1)利用紫外成像仪测量三个测试点上紫外辐射通量;(2)由紫外辐射通量计算该测试点电场强度;(3)定义相关系数ξ为相同测试点上的紫外辐射通量密度与电场强度的比值,ξ(×10‑9(W/m2))值在5到11之间;由于第一测试点1处场强最大,其ξ值在6到7之间,由于第一测试点1处放电比较集中,因此ξ值最为可信;因此实测中取ξ为7(×10‑9(W/m2));(4)在复合绝缘子临界闪络时刻,用探针测得三个测试点处等离子体团电子平均能量,由此可回推该测试点电场强度,并得到紫外辐射通量计算值;(5)定义误差修正系数β为紫外通量密度的实测值与计算值的比值;根据大量试验,β取1.08;(6)由
得到该运行条件下约化场强的经验式为E/n=25.55Puv;(7)选取不同运行条件下复合绝缘子,测试电子平均能量的最小值,通过上述经验式,推导得到紫外通量密度的实测值不大于3×10‑9(W/m2),超过该值绝缘子则面临闪络危险。
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