[发明专利]柔性石墨纸衬底沉积制备柔性多晶硅薄膜的方法在审
申请号: | 201410300874.9 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN104766784A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 阮绍林;阮正亚;陈诺夫;辛雅焜;吴强;沈潮华 | 申请(专利权)人: | 常州英诺能源技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种柔性石墨纸衬底沉积制备柔性多晶硅薄膜的方法。该方法以柔性石墨纸作为衬底,首先在石墨纸衬底上利用磁控溅射技术沉积硅薄膜;其次对硅薄膜进行热退火,制备出具有一定择优取向及结晶化程度好的柔性多晶硅薄膜籽晶层,以解决在柔性石墨纸衬底上直接沉积一定厚度的多晶硅薄膜而存在的晶格不匹配的问题;然后再通过磁控溅射法或化学气相沉积法对柔性多晶硅薄膜籽晶层进行外延沉积,制得外延多晶硅薄膜;最后对外延沉积的多晶硅薄膜进行热退火,增大多晶硅薄膜晶粒尺寸,降低缺陷密度,制备出柔性多晶硅薄膜。本发明制备的柔性多晶硅薄膜质量高,具有一定的择优取向,且掺杂少量碳,增强了柔性多晶硅薄膜的导电性,同时简化了生产工艺,大幅降低生产成本,可广泛用于后续薄膜太阳电池的制作。 | ||
搜索关键词: | 柔性 石墨 衬底 沉积 制备 多晶 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
柔性石墨纸衬底沉积制备柔性多晶硅薄膜的方法的制作工艺,其特征是,包括以下步骤:(1)选用厚度为20‑50微米的柔性石墨纸作为衬底,采用磁控溅射法和快速热退火法在柔性石墨纸衬底上制备柔性多晶硅薄膜籽晶层;(2)利用磁控溅射法或化学气相沉积法在制得的柔性多晶硅薄膜籽晶层上进行外延沉积,得到外延多晶硅薄膜,并控制多晶硅薄膜的厚度在20‑50微米之间;(3)对外延沉积后的多晶硅薄膜进行热退火,使得柔性石墨纸衬底同多晶硅薄膜结合为整体,制备出柔性多晶硅薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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